品名: X射线荧光镀层厚度测量仪SFT9100M
型号: SFT9100M 概要 是利用荧光X射线原理的镀膜厚度测量计。可以测定结构部件有凹凸的样品和印刷基板等大面积样品。对照采用激光射线的Z轴方向的焦点，可以发挥测定值的再现性。而且物美价廉。
特长
1.操作非常简单。
2.运用激光焦点的功能，简单的调整位置。
3.针对有凹凸的样品也搭载了放心的防止冲突传感器。
4.搭载焦点切换机构，可以对高的样品的低部分进行测定。(任意选择)
5.采用可以测定大型打印基板的狭小间隙机构。
规格
型号 SFT9100系列
射线源 空冷式小型X射线管
准直器 2种类型 0.1、0.2mmφ
计算机 CPU(AT互换电脑)、HDD、FDD、Microsoft-Windows®
过滤装置 数字过滤装置
样品平台 台面尺寸：220（W）x 150（D）mm
Z移动量：50mm
(使用spacer可达到150mm)