品名:X射线荧光镀层厚度测量仪
型号:SFT-110
概要:1.即放即测！2.10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量！3.可无标样测量！4.通过样品整体图像更方便选择测量位置！
特长
［SFT-110的主要特征］
1. 通过自动定位功能提高操作性 测量样品时，以往需花费约10秒的样品对焦，现在3秒内即可完成，大大提高样品定位的操作性。
2. 微区膜厚测量精度提高 通过缩小与样品间的距离等，致使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度。
3. 多达5层的多镀层测量 使用薄膜FP法软件，即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。
4. 广域观察系统（选配）可从*250×200mm的样品整体图像测量位置。
5. 对应大型印刷线路板（选配） 可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。
6. 位 与以往机型相比，既提高了功能性又降低20%以上的价格。

［主要产品规格］

检测器

比例计数管

X射线源

空冷式小型X射线管

准直器

0.1、0.2mmφ2种

样品观察

CCD摄像头

样品台移动量

250（X）×200（Y）mm

样品*高度

150mm