黄燕忠
美国
X 射线镀层测厚仪
温馨提示：X射线镀层测厚仪、X-RAY光谱仪某种意义上来说是非标仪器，所测项目及精度要求不同，需要运用到的硬件配置也不一样，价格差异也较大，我司所有仪器出售，具体详情请联系我公司销售部经理或者直接旺旺联系我们的客服。感谢您的支持
X射线镀层测厚仪应用岭域；
单镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
双镀层：Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
三镀层：Au/Ni/Cu/ABS，Au/Ag/Ni/Cu, Au/Ni/Cu/Fe,等等
一、X射线镀层测厚仪功能
1. 采用 X 射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度，测量方法满足
GB/T 16921-2005 标准（等同 ISO3497：2000、 ASTM B568 和 DIN50987）。
2. 镀层元素范围：钛～铀，包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、铬、钯等。
3. 镀层层数：多至 5 层。
4. 测量点尺寸：圆形测量点，直径约 0.2—0.8毫米。
5. 测量时间：通常 30 秒。
6. 样品大尺寸：380mm 长×200mm 宽×170mm 高。
7. 测量误差：通常小于 5%，视样品具体情况而定。
8. 可测厚度范围：通常 0.01 微米到 30 微米，视样品组成和镀层结构而定。
X射线镀层测厚仪二、特点和数据
2. X 射线采用从上至下的照射方式，即使是表面高低不一的样品也可以正确测
量。反之，如果是从下至上的照射方式，遇到表面凹凸的样品，无法调整 Z 轴距离，导致测量光程的变化，引起测量的误差。例如（举例不同距离导 致的误差数据）。
3. 开放的校准模式，用户可自行建立校准曲线不受仪器厂家限制。
4. 提供符合 NIST 美国标准技术协会要求，A2LA 美国实验室协会的标准样品，可验证测量结果并让实验数据具有可追溯性。
5. Windows 7 操作系统，数据可存储，转移，并可一键生成包含测量数据、统计值、样品图片和趋势图等要素的报告（word 格式）。
三、X射线镀层测厚仪参数
测定元素范围： | Ti22 - U92 |
探测器： | 封气正比计数器 |
单准直器任选： | 0.3 mm 或 0.5 mm Ø |
大样品尺寸： | 长 380 x 宽 370 x 高 100 mm |
数字脉冲处理器： | 2048 通道、数字式多道分析器 |
电源要求： | 110 V / 230 V 60 Hz / 50 Hz |
镀层和成份分析： | 镀层：多同时测定 5 层(4 层镀层+基体材料) 成份：多同时测定 20 种元素 |
X 射线激发： | 50kV、1.2mA (60W)高压发生器 微聚焦 W 靶 X 射线管 |
计算机/显示屏/操作系统： | 19" TFT 平板彩色显示器 Microsoft TM Windows7 32 bit |
成像系统： | 彩色视频系统 20 倍放大倍数 被测样品图像实时显示功能 电脑显示屏具有画中画功能 |
工作环境要求： | 50°F (10°C) - 95°F (35°C)，高 98%相当湿度(无冷凝水) 在空调环境中使用 |
样品台规格： | 电动样品台， 台面尺寸长 240 x 宽 240 mm 大承重 5 公斤配置 Z 轴移动距离大 60 mm |
仪器外形尺寸： | 长 400 x 宽 600 x 高 400 mm |
重量： | 41 kg (主机重量，不包含计算机和显示器等重量) |
四、X射线镀层测厚仪部分客户
