开关按键寿命测试介绍

发布时间:2017-07-05

   NWT1001V10型测试机是我司研发的新一代测试机,在行业处于地位,它采用国际的电磁按压技术,快速,避免砝码机在运动中产生大的惯性冲击力对测试样品的附加破坏,成为我国按键测试领域更新换代的。大记录数据为两千万次,步进电机模拟手指按压动作,实时检测开关状态,智能判断开关按键失效。停机后会自动保留上次测试数据,重新开机后继续从上次数据开始计数。本机可对PDA、薄膜按键、硅胶按键、手机、计算器、记事本、对讲机等键盘及各种按钮、开关等做寿命(疲劳)测试,也适用于硅橡胶类按键作疲劳测试。本机功耗低,噪音小,测试速度快,而且价格低廉,方便使用。

可加装大电流测试模块,测试30A以下的大电流开关;还可加装通讯模块与其他设备联机测试。
加装模块根据客户需求订制,另外报价,一般在100-350元不等。

技术参数:
1. 测试头移动行程: 往复行程4mm(固定),探测行程7mm
2.
测试速度: 1万次每小时
3.
单次大测试数据:两千万次
4.
测试头可调整高度:0~120mm,手轮微调范围 40mm
5.
测试力量: 150-800g
6.
驱动方式:步进电机
7.
设备尺寸: 380mm×260mm×370mm
8.
重量:6kg
9.
电源:12V DC10W[配:电源适配器输入220V50HZ,输出DC12V2A]
10.
噪音:35分贝

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