XRF镀层测厚仪俗称:X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等，主要用于精密测量金属电镀层的厚度。
XRF镀层测厚仪：俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等；
功能：精密测量金属电镀层的厚度；
应用范围：测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成,测量范围从12(Mg)到92(U);
5 层 (4 镀层 + 基材) / 15 元素 / 共存元素校正;
元素光谱定性分析;
测试方法***符合 ISO 3497, ASTM B568 和DIN 50987
应用群体主要集中在：电路板、端子连接器、LED、半导体、卫浴洁具、五金电镀、珠宝首饰、汽车配件、检测机构以及研究所和高等校等；
型号：Thick800A
技术指标
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
