气体报警器平陆价格

技术指标
分析方法:	210, 228nm 比色法
消解方法:	碱性过硫酸盐快速消解法（ 150℃， 8bar）
样品 pH:	pH 2-11
测量范围:	"低量程0.5-30mg/L TN
	高量程30-150mg/L TN"
气体报警器平陆价格 准确度:	<2%在 15mg/L
度:	<1%
分析单元校正方法:	单点或多点校正
消解、分析单元管路：	允许 100 粒径的颗粒通过
自动进样器转盘:	"直径 240mm, 有两种型号：（1）36个样品瓶孔，带搅拌功能；（2）53 个样品瓶孔，无搅拌功能；"
控制单元显示屏：	彩屏显示
消解及分析单元重量：	40千克
自动进样器转盘重量：	5千克

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半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆制造和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，lLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的lPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。