SICK传感器物体缺陷检查

SICK传感器和微处理机等。物体成像在CCD图像传感器的光敏阵列上。视频处理器对输出的视频信号进行存储和数字处理，并将测量的数据加以显示或打印，从而实现对微小工件形状和尺寸的非接触自动测量。测量原理是，根据工件成像轮廓覆盖的光敏单元数量来计算工件尺寸数据。例如，在光学系统放大率为1：M的装置中，便有L=(Nd±2d)M。

式中，L是工件尺寸；N是覆盖的光敏单元数；d是相邻光敏单元中心距离。

SICK传感器物体缺陷检查

SICK传感器当光照射到物体时，使不透明液体的表面缺陷或者透明物体的内部缺陷（杂质）与其材料背景相比有足够的反差，只要缺陷面积大于两个光敏单元时，CCD图像传感器就能够发现它们。这种检测方法能适用多种情况，例如检查磁带，磁带上的小孔就能发现。也可检查透射光，检查玻璃中的针孔、气泡和夹杂物。

SICK传感器安全监测

SICK传感器用二维阵列制作的照相机可用来监测关键部位（例如门）。现场由可见光或红外光照明，辅助电路可用来计算被遮住的光敏元数目，从视频信息中能够获得通过视场的闯入者的性质（即能分辨出鸟、猫或人）。对图像来说，当计数足够辨认为闯入者时，警报系统就被触发。

SICK传感器光学字符识别

SICK传感器带有光学系统的线阵或面阵德国SICK传感器，垂直扫过字符，产生视频信号，送入逻辑电路，以识别输出数据。随后将其编成适合于计算机接口的代码，输到计算机上去。这样设计的装置可以获得3000字/s的高分速率，可用于：标准信件识别分选、贴有价格标签的商品设计及文字阅读机。