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世通魏工分享：光电雾度仪的原理
雾度是透过试样而偏离入射光方向的散射光通量与透射光通量之比，用百分数表示。通常仅将偏离入射光方向2.5度以上的散射光通量用于计算雾度。光电雾度仪是根据GB2410-80及ASTM D1003-61(1997-2004)设计的小型雾度仪。适用于平行平板或塑膜样品的测试，能广泛应用于透明、半透明材料雾度、透光率的光学性能检验。
光电雾度仪具有结构小巧，使用操作方便的特点。光电雾度仪适用于各种材料的透光率和雾度值的测定。一束平行光束入射某介质(如透明塑料)时，由于物质光学性质的不均匀性;表面缺陷，内部组织的不均匀，气泡和杂质存在等，光束就会改变方向(扩散和偏折)，产生的部分杂乱无章光线称散射光。
上规定用透过试样而偏离入射光方向的散射光通量与透射光通量之比用百分数来表示，这就是所谓雾度。雾度大的试样给人的感觉将更加模糊。
另一方面，电子设备在工作时也会产生各种各样的电磁干扰噪声。比如数字电路是采用脉冲信号（方波）来表示逻辑关系的，对其脉冲波形进行付里叶分析可知，其谐波频谱范围很宽。另外在数字电路中还有多种重复频率的脉冲串，这些脉冲串包含的谐波更丰富，频谱更宽，产生的电磁干扰噪声也更复杂。各类稳压电源本身也是一种电磁干扰源。在线性稳压电源中，因整流而形成的单向脉动电流也会引起电磁干扰；开关电源具有体积小，效率高的优点，在现代电子设备中应用越来越广泛，但是因为它在功率变换时处于开关状态，本身就是很强的EMI噪声源，其产生的EMI噪声既有很宽的频率范围，又有很高的强度。
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光线在透过试样时还会产生损失，即穿过试样的透射光通量永远小于照射到试样上的入射光通量。两者之比，用百分数表示，上定义为透光率。引起透光率下降的原因是试样两个表面对光线的反射和试样对入射光线的全波长或部分波长的光能量吸收等。
光电雾度仪是根据GB2410-80及ASTM D1003-61(1997-2004)设计的小型雾度仪。适用于平行平板或塑膜样品的测试，能广泛应用于透明、半透明材料雾度、透光率的光学性能检验。光电雾度仪具有结构小巧，使用操作方便的特点。光电雾度仪适用于各种材料的透光率和雾度值的测定
典型的高速背板互连系统高速背板互连测试概述数字通信系统在较低的信号速率时，这些互连的电长度很短，驱动器和接收机一般是导致信号完整性问题的主要因素。但随着时钟速率、总线速率及链路速率突破每秒千兆大关，物理层特性测试正变得日益关键。时域分析一般用来描述这些物理层结构的特征，但通常情况下，设计人员在测试时往往只考虑器件工作在其被期望的工作模式上时的情况。为了获得一个完整的时域信息，必须要测试反射和传输（TDR和TDT）中的阶跃和脉冲相应。
一束平行光束入射某介质(如透明塑料)时，由于物质光学性质的不均匀性;表面缺陷，内部组织的不均匀，气泡和杂质存在等，光束就会改变方向(扩散和偏折)，产生的部分杂乱无章光线称散射光。上规定用透过试样而偏离入射光方向的散射光通量与透射光通量之比用百分数来表示，这就是所谓雾度。雾度大的试样给人的感觉将更加模糊。光线在透过试样时还会产生损失，即穿过试样的透射光通量永远小于照射到试样上的入射光通量。两者之比，用百分数表示，上定义为透光率。
引起透光率下降的原因是试样两个表面对光线的反射和试样对入射光线的全波长或部分波长的光能量吸收等。在测试样品的雾度和透光率过程中，必须计量入射光通量(T1)，透射光通量(T2)、仪器散射光通量(T3)，试样的散射光通量(T4)。在测试样品的雾度和透光率过程中，必须计量入射光通量(T1)，透射光通量(T2)、仪器散射光通量(T3)，试样的散射光通量(T4)。
数据处理按"GB2410-80"试验方法，本机透光率和雾度值计算方法如下:
透光率:Tt= T2/ T1×其中T1为100 光电雾度仪雾度: H= T4/ Tt× T3为0
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