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世通魏工分享：光电雾度仪的原理
雾度是透过试样而偏离入射光方向的散射光通量与透射光通量之比，用百分数表示。通常仅将偏离入射光方向2.5度以上的散射光通量用于计算雾度。光电雾度仪是根据GB2410-80及ASTM D1003-61(1997-2004)设计的小型雾度仪。适用于平行平板或塑膜样品的测试，能广泛应用于透明、半透明材料雾度、透光率的光学性能检验。
光电雾度仪具有结构小巧，使用操作方便的特点。光电雾度仪适用于各种材料的透光率和雾度值的测定。一束平行光束入射某介质(如透明塑料)时，由于物质光学性质的不均匀性;表面缺陷，内部组织的不均匀，气泡和杂质存在等，光束就会改变方向(扩散和偏折)，产生的部分杂乱无章光线称散射光。
上规定用透过试样而偏离入射光方向的散射光通量与透射光通量之比用百分数来表示，这就是所谓雾度。雾度大的试样给人的感觉将更加模糊。
平面低通滤波器简介随着现在微波链路越来越高频化，小型化，直接在链路中集成低通的现象越来越普遍。同时很多芯片化的低通也大都是在高介电陶瓷片上实现的微带滤波器。陶瓷片型的芯片电容，电感，均衡器都需要用到平面低通的设计概念。常见的低通滤波器在ADS中的模型及结构形式见。常见的平面结构低通滤波器三种结构的优缺点对比见表1，通常对要求比较高的设计时可综合三种结构的优缺点进行折中设计。表1三种结构优缺点对比2.平面低通滤波器设计的理论基础本次结的理论基础来源，核心理论为的高低阻抗线等效电路。
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光线在透过试样时还会产生损失，即穿过试样的透射光通量永远小于照射到试样上的入射光通量。两者之比，用百分数表示，上定义为透光率。引起透光率下降的原因是试样两个表面对光线的反射和试样对入射光线的全波长或部分波长的光能量吸收等。
光电雾度仪是根据GB2410-80及ASTM D1003-61(1997-2004)设计的小型雾度仪。适用于平行平板或塑膜样品的测试，能广泛应用于透明、半透明材料雾度、透光率的光学性能检验。光电雾度仪具有结构小巧，使用操作方便的特点。光电雾度仪适用于各种材料的透光率和雾度值的测定
它融合了数字扩频、数字信号处理和前向纠错编码技术，拥有前所未有的性能。此前，只有一些军事通讯系统中才会融合这些技术，而随着LoRa的引入，嵌入式无线通信领域的局面发生了的改变。：支持LoRa调制技术的无线产品前向纠错编码技术是给待传输数据序列中增加了一些冗余信息，这样，数据传输进程中注入的错误码元在接收端就会被及时纠正。这一技术减少了以往创建“自修复”数据包来重发的需求，且在解决由多径衰落引发的突发性误码中表现良好。
一束平行光束入射某介质(如透明塑料)时，由于物质光学性质的不均匀性;表面缺陷，内部组织的不均匀，气泡和杂质存在等，光束就会改变方向(扩散和偏折)，产生的部分杂乱无章光线称散射光。上规定用透过试样而偏离入射光方向的散射光通量与透射光通量之比用百分数来表示，这就是所谓雾度。雾度大的试样给人的感觉将更加模糊。光线在透过试样时还会产生损失，即穿过试样的透射光通量永远小于照射到试样上的入射光通量。两者之比，用百分数表示，上定义为透光率。
引起透光率下降的原因是试样两个表面对光线的反射和试样对入射光线的全波长或部分波长的光能量吸收等。在测试样品的雾度和透光率过程中，必须计量入射光通量(T1)，透射光通量(T2)、仪器散射光通量(T3)，试样的散射光通量(T4)。在测试样品的雾度和透光率过程中，必须计量入射光通量(T1)，透射光通量(T2)、仪器散射光通量(T3)，试样的散射光通量(T4)。
数据处理按"GB2410-80"试验方法，本机透光率和雾度值计算方法如下:
透光率:Tt= T2/ T1×其中T1为100 光电雾度仪雾度: H= T4/ Tt× T3为0
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