吴忠市监测设备校准
世通耿Ｓ分享：千分尺的正确测量方法
千分尺使用注意事项
01. 千分尺是一种精密的量具，使用时应小心谨慎。
02. 有些千分尺为了防上手温使尺架膨胀引起微小的误差，在尺架上装有隔热装置，操作时应手握隔热装置，而尽量少接触尺架的金属部分。
03. 使用千分尺测同一长度时，一般应反复测量几次，取其平均值作为测量结果
04. 千分尺用毕后，应用纱布擦干净，在测砧与丝杆之间留出一点空隙，放入盒中，如长期不用可抹上黄油或机油，放置在干燥的地方。
如何工作电容式传感器基本上可以分成三类：电场传感器、基于弛张振荡器的传感器以及电荷转移(QT)器件。电场传感器通常会产生数百kHz的正弦波，然后将这个信号加在电容一个极板的导电盘上，并检测另外一个导电盘上的信号电平。当用户的手机或另外的导体对象接触到两个盘的时候，接收器上的信号电平将改变。通过解调和滤波极板上的信号，可能获得一个直流电压，这个电压随电容的改变而变化；将这个电压施加在阈值检测器上，即可以产生触摸/无触摸的信号弛张振荡器使用了一个电极盘，其上的电极电容构成了锯齿波振荡器中的可变定时单元。
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在带宽500MHz以下的示波器，一般标配是1倍衰减或10倍衰减的无源，某些的衰减比可手动选择。不同衰减比的在带宽、输入电阻、输入电容上面都有差异：图2ZP1025SA1倍、10倍衰减时的参数差异可见的输入电容，比晶体手册的负载电容要大。的介入，必定大大影响到原已参数优化好的电路，从而严重影响晶体电路的起振。两害相权取其轻，测量无源晶振时应优先选用10倍衰减。若10倍衰减的寄生参数还是过大，可以考虑选用有源高压差分，其负载参数优化得非常小，如Lecroy的ZP1000，输入阻抗可达0.9p1M欧姆。
千分尺主要有以下部分组成： 测砧， 丝杆，游标刻度，棘轮，固定套筒，锁紧螺母，支架等组成。
01. 内径千分尺在测量及其使用时，必需用尺寸**的接杆与其测微头连接，依次顺接到测量触头，以减少连接后的轴线弯曲。
02. 测量时应看测微头固定和松开时的变化量。
03. 在日常生产中，用内径尺测量孔时，将其测量触头测量面支撑在被测表面上，调整微分筒，使微分筒一侧的测量面在孔的径向截面内摆动，找出尺寸。然后拧紧固定螺钉取出并读数，也有不拧紧螺钉直接读数的。这样就存在着姿态测量问题。姿态测量:即测量时与使用时的一致性。例如:测量75,600/0.01mm的内径尺时，接长杆与测微头连接后尺寸大于125mm时。其拧紧与不拧紧固定螺钉时读数值相差0.008 mm既为姿态测量误差。
04. 内径千分尺测量时支承位置要正确。接长后的大尺寸内径尺重力变形，涉及到直线度、平行度、垂直度等形位误差。其刚度的大小，具体可反映在"自然挠度"上。理论和实验结果表明由工件截面形状所决定的刚度对支承后的重力变形影响很大。如不同截面形状的内径尺其长度L虽相同，当支承在(2/9)L处时,都能使内径尺的实测值误差符合要求。但支承点稍有不同，其直线度变化值就较大。
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示波器的采样根据Nyquist采样定理，当对一个频率为f的带限信号进行采样时，采样频率SF必须大于f的两倍以上才能确保从采样值完全重构原来的信号。这里，f称为Nyquist频率，2f为Nyquist采样率。对于正弦波，每个周期至少需要两次以上的采样才能保证数字化后的脉冲序列能较为准确的还原原始波形。如果采样率低于Nyquist采样率则会导致混迭（Aliasing）现象。采样率SF2f，混迭失真和显示的波形看上去非常相似，但是频率测量的结果却相差很大，究竟哪一个是正确的？仔细观察我们会发现中触发位置和触发电平没有对应起来，而且采样率只有250MS/s，中使用了20GS/s的采样率，可以确定，显示的波形欺骗了我们，这即是一例采样率过低导致的混迭（Aliasing）给我们造成的假像。
尽管用户记录的RF信号可以此方式用于测试，但建议的方法是使用SatGen软件所创建的计算机生成模拟文件。这是因为SatGen创建的文件会包含具有恒定信噪比的“纯”GPS信号。用户记录的场景会包含记录时出现的额外噪声以及不断变化的信噪比，难于进行对比。图片：采用SatGen所创建GPS信号的RF功率水平输出示例。-85dBm至-115dBm的范围对应于标准LabSat输出范围。通过在回放过程中调节衰减滑块，RF功率输出水平可从-85dBm降至-115dBm。
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