【局部放电测试中会出现的干扰类型】干扰会降低局部放电测试的检测灵敏度，并且应将干扰水平抑制到*低水平。干扰类型通常包括：电源干扰，接地系统干扰，电磁辐射干扰，测试设备各种组件的放电干扰以及各种接触干扰。这些干扰及其进入测试回路。
a、电源干扰。检测器和测试变压器使用的电源连接到低压配电网，配电网中的各种高频信号会直接引起干扰。因此，通常采用屏蔽电源隔离变压器和低通滤波器进行抑制，效果非常好。
b、接地干扰。测试电路接地不正确。例如，在具有两个或多个接地的接地网格系统中，各种高频信号将通过接地线耦合到测试电路，从而引起干扰。这种干扰通常与测试电压电平无关。测试电路使用单点接地以减少这种干扰。
C、电磁辐射干扰。与高压带电设备或高压传输线相邻，无线电发射器和除测试电路之外的其他高频信号（例如晶闸管和电刷）以电磁感应或电磁辐射的形式耦合到杂散电感。测试电路的波形通常很难与样品的内部放电区分开，并且对现场测量有很大的影响。它的特征与测试电压无关。消除这种干扰的根本对策是将样品放置在良好屏蔽的实验室中。使用平衡法，对称法和模拟天线法的测试环路也可以抑制辐射干扰。
d、悬浮的潜在放电干扰。与测试电路相邻的未接地金属产生的感应浮动电位放电也是常见的干扰类型。它的特点是测试电压增加，但其波形通常更易于识别。消除的一种对策是移开，第二种对地。
e、电晕放电和每个接头处的接触放电干扰。电晕放电是在高电压下在测试电路的导电部分中产生的，例如测试件的法兰，金属帽，测试变压器，耦合电容器的端部以及高压的*部分铅。由于每个连接处的接触不良，在测试电路中也可能发生接触放电干扰。随着测试电压的增加，这两种干扰的特性也会增加。消除此类干扰的方法是，在高压端使用防晕措施（例如防晕环），使用不带卤素导电管的高压引线，以及接头之间的良好接触。
F、测试变压器和耦合电容器的内部放电干扰。这种放电很容易与样品的内部放电混淆。因此，应将所使用的测试变压器和耦合电容器的局部放电水平控制在一定的允许量以下。
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