常德临澧县风速仪校准-地址
世通魏工分享:光电雾度仪的原理
雾度是透过试样而偏离入射光方向的散射光通量与透射光通量之比,用百分数表示。通常仅将偏离入射光方向2.5度以上的散射光通量用于计算雾度。光电雾度仪是根据GB2410-80及ASTM D1003-61(1997-2004)设计的小型雾度仪。适用于平行平板或塑膜样品的测试,能广泛应用于透明、半透明材料雾度、透光率的光学性能检验。
光电雾度仪具有结构小巧,使用操作方便的特点。光电雾度仪适用于各种材料的透光率和雾度值的测定。一束平行光束入射某介质(如透明塑料)时,由于物质光学性质的不均匀性;表面缺陷,内部组织的不均匀,气泡和杂质存在等,光束就会改变方向(扩散和偏折),产生的部分杂乱无章光线称散射光。

常德临澧县风速仪校准图(1)
用透过试样而偏离入射光方向的散射光通量与透射光通量之比用百分数来表示,这就是所谓雾度。雾度大的试样给人的感觉将更加模糊。APM可编程交流电源系列采用主动式PFC电路,功率因数可达.99,搭配软启以及继电器导通时序控制可以有效浪涌电流的产生,同时降低谐波电流幅值。输入滤波器可以或者去除电磁干扰,达到电磁兼容目的。开关器件选择零电压/零电流导通类型,环路以及参数设计合理避免谐振产生。结构设计上除了考虑风道走向,也充分兼顾到要求,合理的PCB布线以及磁珠的适当应用,都对电磁干扰起到重要作用。通过对比了解电磁干扰对测试产生的影响如下截图来自国内某终端用户,在购买APM可编程交流电源之前,其选购了其他的电源。
光线在透过试样时还会产生损失,即穿过试样的透射光通量永远小于照射到试样上的入射光通量。两者之比,用百分数表示,上定义为透光率。引起透光率下降的原因是试样两个表面对光线的反射和试样对入射光线的全波长或部分波长的光能量吸收等。
光电雾度仪,适用于平行平板或塑膜样品的测试,能广泛应用于透明、半透明材料雾度、透光率的光学性能检验。光电雾度仪具有结构小巧,使用操作方便的特点。光电雾度仪适用于各种材料的透光率和雾度值的测定
一根长为的钢弦,当前所受张力为T,则其固有频率为:式中d表示单位长度钢弦的质量。钢弦的张力在被测轴受到的扭矩作用下产生变化,进而引起钢弦振动频率的变化,频率的变化量通过磁电式变换器转换为电信号。钢弦与*磁钢间的间隙在钢弦发生振动的情况下发生变化,从而磁路的磁阻发生了改变,进而感应电动势在线圈中产生,其频率即钢弦振动频率,经放大器放大后电压信号被输出测量。钢弦法工作稳定、性能可靠、测量精度高,对于船舶主机等可以快速地进行高质量的测试。

常德临澧县风速仪校准图(2)
一束平行光束入射某介质(如透明塑料)时,由于物质光学性质的不均匀性;表面缺陷,内部组织的不均匀,气泡和杂质存在等,光束就会改变方向(扩散和偏折),产生的部分杂乱无章光线称散射光。上规定用透过试样而偏离入射光方向的散射光通量与透射光通量之比用百分数来表示,这就是所谓雾度。雾度大的试样给人的感觉将更加模糊。光线在透过试样时还会产生损失,即穿过试样的透射光通量永远小于照射到试样上的入射光通量。两者之比,用百分数表示,上定义为透光率。
引起透光率下降的原因是试样两个表面对光线的反射和试样对入射光线的全波长或部分波长的光能量吸收等。在测试样品的雾度和透光率过程中,必须计量入射光通量(T1),透射光通量(T2)、仪器散射光通量(T3),试样的散射光通量(T4)。在测试样品的雾度和透光率过程中,必须计量入射光通量(T1),透射光通量(T2)、仪器散射光通量(T3),试样的散射光通量(T4)。
数据处理按"GB2410-80"试验方法,本机透光率和雾度值计算方法如下:
透光率:Tt= T2/ T1×其中T1为100 光电雾度仪雾度: H= T4/ Tt× T3为0

常德临澧县风速仪校准图(3)
数字示波器的一个捕获周期连续多个捕获周期内,死区时间越长,相对的有效捕获时间就越短,一旦示波器的波形捕获率过低,这样就有可能导致异常信号出现在死区时间内而被漏掉。由此可见示波器的波形捕获率对于能否捕捉低概率的异常信号是很关键的,信号里面随机的异常信号及偶发信号往往是无法被预测的,波形捕获率越高,越有利于捕获低概率的信号!那么,我们如何验证那些示波器厂家所标称的几十万甚至上百万的波形捕获率的真假呢?测量示波器的波形捕获率并不难,大多数示波器都会提供一个触发输出信号,通常用于使其他仪器与示波器的触发同步,我们可以通过频率计以及其他示波器来测量这个触发信号的平均频率,进而测量出待测示波器的波形捕获率。
研发者尝试着减少热切换的影响,但是事实上,很多测试由于时间方面的限制,是需要进行热切换的,这样可以防止在测试的过程中系统的重新启动或者是确保可以模拟间歇性的故障。热切换是研发者避免不了的。其实测试系统中很多的故障不是由于继电器的正常寿命已经到了而引起,一些故障是在生产的阶段就无法进行检测而引起的。很多的故障是在测试系统中的一些意外的情况而引起的。一个经常发生的情况是系统的集成而引起的,由于不该连接的地方连接,如与电源之间的短路或者是在电容性的负载上进行热切换,从而引起的布线和软件方面的故障,从而影响到继电器。其测量过程是测量转速的霍尔传感器和电机机轴同轴连接,机轴每转一周,产生一定量的脉冲个数,由霍尔器件电路输出。成为转数计数器的计数脉冲。同时霍尔传感器电路输出幅度为12V的脉冲经光电耦合后降为5V,保持同单片机AT89C51逻辑电平相一致,控制计数时间,即可实现计数器的计数值对应机轴的转速值。主CPU将该值数据处理后,在数码管上显示出来。本系统采用89C51中的0INT中断对转速脉冲计数。定时器T0工作于定时方式,工作于方式1。
下一篇:http://www.testmart.cn/Home/News/data_detail/id/723527272.html