安捷伦MSOX3102A数字示波器-可物流代收

发布时间:2021-08-30

安捷伦MSOX3102A数字示波器-可物流代收

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370A 是 Tektronix 的曲线跟踪仪。曲线追踪器或曲线检查器是工程师用来分析半导体器件特性的一种电子测试设备。曲线示踪器包含电流和电压源以刺激被测设备 (EUT)。曲线*向 EUT 的两个端子施加扫描电压,测量每个电压下的电流水平。

附加功能:

半导体器件的高精度测量
高达 2000 伏或 10 安培电源
高达 220 瓦
1 纳安测量分辨率
低至 2 毫伏的测量分辨率
波形比较
信封显示
波形平均
点光标
开尔文感应测量
完全可编程
3.5 英寸 MS DOS 兼容磁盘存储,用于保存和调用设置
泰克 370A 可编程曲线示踪器是一款高分辨率曲线示踪器,可对高达 2000 V 或 10 安培电源、高达 200 瓦、低至 1 纳安/2 毫伏测量分辨率的半导体器件进行高精度测量。它还具有波形比较和平均功能。

370B 是 Tektronix 的曲线跟踪仪。曲线追踪器或曲线检查器是工程师用来分析半导体器件特性的一种电子测试设备。曲线示踪器包含电流和电压源以刺激被测设备 (EUT)。曲线*向 EUT 的两个端子施加扫描电压,测量每个电压下的电流水平。

附加功能:

使用 370B 进行高分辨率直流参数测量(分辨率低至 1 pA 或 2 μV)
使用 371B 提供高电压和电流(高达 3,000 V 或 400 A)
内置光标测量 - 点、窗口和功能线
开尔文感应测量
扫描测量模式
波形比较和平均
完全可编程
1.44 MB 软盘驱动器存储曲线的设置和位图
使用第三方打印机直接硬拷贝
半导体的参数表征
故障分析
数据表生成
制造测试
过程监控和质量控制
即将到来的检查
组件匹配
泰克 370B 提供高达 20 A/2,000 V 的输出能力以及 1 pA 和 50 micro V 的测量分辨率。370B 对集成电路、晶体管、晶闸管、二极管、可控硅、MOSFET、光电元件、太阳能电池、固态继电器和其他半导体器件进行直流参数表征。它具有按钮源和测量配置,因此可以轻松地从一个测试更改为下一个测试。

安捷伦MSOX3102A数字示波器-可物流代收


371A 是 Tektronix 的曲线跟踪仪。曲线追踪器或曲线检查器是工程师用来分析半导体器件特性的一种电子测试设备。曲线示踪器包含电流和电压源以刺激被测设备 (EUT)。曲线*向 EUT 的两个端子施加扫描电压,测量每个电压下的电流水平。
附加功能:

带光标和硬拷贝的完全可编程数字曲线追踪器
使用 371A 提供高电压和电流
度量软件和 LabView 驱动程序可用于增强操作
CE
370 系列数字曲线示踪器与模拟曲线示踪器相比具有多项优势:

更高的电压和电流源能力(高达 3000 V 和 400 A)
更高分辨率的电压和电流测量(低至 1 pA 和 50 μV)
查看没有闪烁的曲线族
显示参考曲线以测量由于温度等引起的变化。
具有内置光标测量功能的电压、电流、DC beta 和斜率测量
存储曲线和设置,以根据参考曲线进行一致的测试和测量
使用 HPGL 绘图仪代替昂贵的宝丽来进行全色打印
使用计算机和软件(例如 Metrics、LabView 等)自动进行测试
集电极供电
模式(两种模式的正极和负极)

高电流:250 秒脉冲,*峰值为 30 V。
高电压:全整流正弦,*峰值为 3000 V(两种模式的正极和负极)
输出
大电流(脉冲)模式:

峰值电压:30 V +10%,–5%;峰值电流:400 A;*米功率:3 kW
峰值电压:30 V +10%,–5%;峰值电流:40 A;*米功率:300 W
高压模式:

峰值电压:3 kV +10,–0%;峰值电流:40 mA ±20%;* m 功率:30 W
峰值电压:3 kV +10,–0%;峰值电流:4 mA ±20%;* m 功率:3 W
峰值电压:300 V +15%,–0%;峰值电流:4 mA ±20%;* m 功率:300 mW
峰值电压:300 V +15%,–0%;峰值电流:0.4 mA ±20%;* m 功率:30 mW
极性: NPN+:正极;NPN-:阴性。
可变收集器供应范围:以 0.1% 的分辨率从 0% 到 * 连续可变。
脉冲集电极电源脉冲宽度:250 μs 10%。
脉冲收集器重复率
3 kW:线路频率的 0.25 倍。
300 W:线路频率的 0.5 倍。
环路补偿(高电压模式): 集电极端子和地之间的杂散电容*多可补偿 100pF。
断路器:高压和大电流电源都有独立操作的断路器。大电流输出断路器在过电流情况下自动断开。两个断路器都可以手动操作。
垂直显示系统集电极电流测量
垂直范围(以 1-2-5 为增量)

* 3 kW:1 A/div 至 50 A/div。
* 300 W:500 μA/div 至 5 A/div。
* 30 W:100 μA/div 至 500 μA/div。
3 W,* 300 mW:10 A/div 至 500A/div。
* 30 mW:1 μA/div 至 50 μA/div。
精度 - 在 0.1 垂直分度以内。
光标精度(非存储模式、窗口光标)——读数 X 2% 加上垂直设置的 0.2 格。
水平显示系统集电极电压测量
垂直范围(以 1-2-5 为增量)

3 kW,* 300 W:100 mV/div 至 5V/div。
30 W,* 3 W:50 V/div 至 500V/div。
300 mW,* 30 mW:5 V/div 至 50V/div
步进发生器电压范围 (VBE):100 mV/div 至 5 V/div(以 1-2-5 为增量)。
精度:0.1 水平分度以内。
光标精度(非存储模式,窗口光标):读数时间 2% 加上水平设置的 0.2 div。
步进发生器

电流模式——大电流(脉冲)模式:

步进范围和波形:1 mA/步进至 2 mA/步进脉冲
*电流:步进/偏移幅度设置 X 20,在 2A/步进时* 20 A
* m 电压:10 V ±20%
高压模式:

步长范围和波形:1 μA/步至 2 mA/步阶
*电流:步进/偏移幅度设置 X 20,在 2A/步进时* 20 A
* m 电压:10 V ±20%
纹波、噪声:步进/偏移幅度设置 X 1% 加 10 nA。
脉冲宽度(集电极供电大电流模式,1 mA/步进/偏移幅度设置):500 s ±10%。
电压模式大电流(脉冲)和高电压

模式:
步进范围和波形:200 mV/step 到 5 V/step 阶梯
*电流:100 mA +50%,–20%
* m 电压:阶跃/偏移幅度设置 X 20,* 50 V。
纹波、噪声:步进/偏移幅度设置 X 1% 加 10 mV,
步数:0 到 10,除了 5 V/步和 2A/步范围的 0 到 5。
步进极性:与集电极电源极性相同。使用 STEP-INVERT 按钮反转。
步进率

脉冲:0.25 X 3kW 时的线路频率,0.5 X 300W 时的线路频率。
阶梯:2 X 线路频率。
偏移:0 到 10 X 步长/偏移幅度设置,分辨率为 1%,除了 0 到 5 X 在 5V/步和 2A/步设置下。极性与阶跃信号相同。
测试夹具:旨在允许轻松连接到各种设备。包括一个完整的安全外壳,以确保操作员的保护。提供了用于连接大型设备的特殊跳线。
度量软件

的计算机配置:*低处理器:386DX/33 MHz IBM 兼容计算机。
可用内存:*少 8 Mb。
磁盘空间:至少 14 Mb。
软盘驱动器:1.44 Mb 3.5 英寸。
操作系统:微软视窗3。
接口卡:National Instruments GPIB 卡。
371A 高功率曲线*对各种功率半导体(包括晶闸管、SCR、IGBT 和功率 MOSFET)执行直流参数表征。高压集电极模式允许测试高达 3000 伏的设备的关闭特性。
脉冲高电流收集器模式提供大于 400 安培峰值的输出电流脉冲,用于测试导通特性。它还允许高达 3,000 瓦的高功率测试。在扫描测量模式下,371A 自动构建一系列曲线,同时用低占空比脉冲激励设备。借助此功能,可以在不过度加热设备的情况下显示功率曲线。

交互式、可编程控制
所有 370A/371A 测量的交互式控制都是通过全功能前面板或通过 GPIB 实现的。每个操作参数都可以使用 GPIB 控制器进行控制。对于交互式控制,Metrics 软件可提供完整的控制和分析,而无需对仪器进行编程。370/371 系列 Lab-View 驱动程序可从 Tektronix BBS 获得。这些驱动程序具有许多用于创建自定义测量解决方案的构建块。

存储和调用设置和数字化曲线
多达 64 条数字化特性曲线可以存储在软盘上,只需按一下按钮即可调用。然后可以将实时曲线与先前存储的曲线进行比较,以评估温度漂移或操作参数的其他变化。为了帮助识别数据,*多可以使用 24 个字符的文本来标记或注释曲线数据。

可以使用多种存储方法调整、存储和调用操作参数,包括 370A/371A 非易失性存储器、内置 DOS 兼容软盘或外部 GPIB 控制器。

测试夹具
提供安全设备外壳以确保在测量过程中保护操作员的测试夹具作为标准附件提供。测试夹具适用于具有开尔文感应的标准 A1001 至 A1005 适配器、不带开尔文感应的 3 针适配器以及 A1023 和 A1024 表面贴装适配器。

直接硬拷贝
绘图仪输出数据可以直接从 370A/371A 发送,无需外部控制器。当 370A/371A 执行下一个任务时,绘图可以继续。

测试和测量软件选项
Metrics ICS 交互式表征软件 (Tektronix PN 063-1649-00) 与 370/371 驱动程序 (Tektronix PN 063-1650-00) 相结合,可提供计算机控制的直流参数表征和众多半导体器件的分析。仪器控制和数据分析的各个方面都可以通过一组交互式对话框获得,这些对话框在面向图形的 Microsoft Windows 环境中进行配置。

指标 ICS 可以进行手动操作仪器无法进行的测量,包括扫描任何电源的能力。广泛的数据管理功能包括项目文件、数据导出、DDE 链接和搜索功能。Metrics ICS 内置自动化功能包括有条件的通过/失败测试和结果记录。


用于 National Instruments Lab-View 软件的Labview? 驱动程序370A 和 371A 驱动程序可从泰克公告板服务处获得。这些驱动程序允许在仪器中设置大多数控件、将数据保存到磁盘以及在计算机屏幕上显示数据。由于 LabView 是一种图形编程语言,因此可以修改驱动程序以满足特定的测量要求。要下载任一驱动程序,请将调制解调器设置为 N、8、1、19、200 波特并拨打 503-627-5658。登录后,选择下载选项并键入 TEK370.ZIP 以下载 370 驱动程序或 TEK371.ZIP 以下载 371 驱动程序。


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主营仪器类目:
射频与微波仪器:
频谱分析仪、网络分析仪、阻抗分析仪、信号发生器、噪声系数分析仪、电缆/天线分析仪、调制度分析仪、功率计/功率探头、频率计、LCR表、测量接收机。
通用仪器
示波器、逻辑分析仪、动态信号分析仪、交流/直流电源分析仪、函数信号发生器、波形监视器、电子负载、波形脉冲发生器、电源、万用表。
无线通信测试仪
手机综合测试仪、无线电综合测试仪、天馈线测试仪、蓝牙综合测试仪、WLAN综合测试仪。

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