IM7585 阻抗分析仪-原装
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LCR测试仪IM3523 IM3533 IM3533-01是基本精度达到±0 05%，有大范围的测量频率1mHz(IM3523是40Hz)~200kHz，*快2ms高速测量，通过断线检查功能提高了测量、匝数比&互阻抗测量等的可信度，相比以往产品实现了高性能·高功能，是一款极具的高端测试仪
基本精度±0.05％，测量范围广(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)。
在例如C-D和ESR这样的混合测量条件下，不间断测试，速度比以往产品快10倍。
内置的低阻抗高精度模式可有效测量低感应或铝电解电容的等效串联电阻。
(测量速度是以往产品3522-50的10倍，大大提高了反复性和稳定性)
模式，用于测量变压器线圈比率，互感系数和温度补偿DCR。
频率扫描测试(仅IM3533-01)
除标准0m/1m以外的2m/4m电缆设置。
内置比较器和BIN功能。
2ms的快速测试时间
hioki日置IM3570 IM3590 阻抗分析仪
1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
LCR模式下*快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量
基本精度±0.08%的高精度测量
适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量
分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
可以用于无线充电评价系统TS2400
搭配4ch扫描模块机架，更能实现2MHz阻抗的4ch测量
M3570阻抗分析仪,日置IM3570阻抗分析仪适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量。
阻抗分析仪 HIOKI日置 IM7580A
*快0.5ms，高速、高稳定测量，节省空间的半个机架大小
测量频率1MHz~300MHz
测量时间：*快0.5ms
基本精度±0.72%rdg.
紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小
丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
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