驿城区水介质流量计校准中心
驿城区水介质流量计校准中心图1
金属管转子流量计转子指针不动是什么原因
金属管转子流量计的转子或指针停在某个方位，直接原因是转子被卡住而无法旋转，这是转子流量计的常见故障。仪器本身的原因包括：转子导杆和止动环不同轴，导致转子卡住；产生这种状况的原因是：流体太脏或晶体被卡住，阀门翻开太快，这使转子敏捷碰击止动件，导致止动件变形并锁定转子。可以依据以下方法进行查看和处理。
在传统的测试中，某些快速突发信号或启动脉冲信号，需要用高性能的示波器或录波仪进行抓取。示波器特点是捕捉信号能力强，但是记录时间有限，无法满足长时间记录需求。而录波仪价值较高，一般测试中又很少用到。所以很多用功率分析仪的客户就常常问我，能否用功率分析仪来实现，当然我会给你满意的。PA系列功率分析仪都具备波形回放和波形记录功能。波形回放是指在测试过程中可以随时将测试仪器暂停下来，通过波形回放来观察暂停前一段时间内的波形，具体操作如下：是正常记录波形的界面，假如我想看在这个信号停止时的波形，那么可以如下操作：步去掉该测试信号，同时点击屏幕左上角“常规分析-波形”字样的区域，会弹出如的界面；第二步选择中的常规分析，会出现如的操作菜单；第三步，点击菜单中“测量”区域，使界面出现“测量”字样，此时仪器界面中的波形会停止刷新。
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因为示波器已经标配了模板测试和参数门限测试能力，所以能够一次性直接执行许多测试需求，而不需要花费大量的软件开发时间。中，铜色的通往EMC干扰室的外部的门位于测试平台的右侧。在左侧，携带功能测试结果的橘黄色光纤中的光信号被转换为电信号后通过BNC线缆输入到示波器通道上。在EMC干扰室外用于抗干扰数据动态分析的示波器阵列示波器中的波形模板用于分析相对于预定义的一致性需求的波形形状。模板的尺寸取决于被测信号的功能标准，能够通过计算机在测试过程中进行自动化的调整。
半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆制造和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，
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观察转子是否确实卡住。用橡皮锤敲击金属管转子流量计的装置法兰，使转子振荡。由于转子的磁性吸附，将有许多金属颗粒附着在转子上，然后导致转子上下移动而被堵塞并卡住。敲击和振荡后，一些颗粒会随介质从流量计中流出，转子会随着流体的改变而旋转，这标明杂质较少，可以用流体冲刷掉，因而转子流量计可以返回到正常。
敲击金属管转子流量计以装置法兰振荡转子无效。应将仪器移开以进行查看和清洁，并应除去附件或灰尘层，假如导向杆曲折，请拉直导向杆。在转子流量计的磁耦合转子组件中，铁粉或铁屑大部分附着在磁体上。在操作的初始阶段，新装置的仪器应使用旁通管道完全冲刷管道；为了避免管道生锈，可以在仪表的前面装置一个过滤器。清洁转子组件后，请查看转子操作的灵活性，可以用手指将转子推到上导轨。松开转子后，转子应可以自在下落至下部导轨，而且发出清晰的金属碰击声。尝试在导杆上的几个方位观察转子的滑动状态。它十分灵活，标明转子组件已正确组装。
在NR系统中，针对控制信道引入了波束扫描增强覆盖的技术。在大规模多天线中，需要选择合适的波束扫描的宽度和频率，进行波束管理和波束跟踪。在不同用户位置和信道环境下，需要验证采用何种码本发送和接收，采用发送几端口导频才能使用户之间干扰很小，导频占用开销尽量少，频谱效率。针对上述问题，大唐移动提出了对应的测试策略。进行上行导频和预编码测试，通过移相系统或者信道模拟系统，远中近点用户构造不同用户间干扰及多径信道对不同端口的SRS发送方案和上行预编码版本的计算，进行导频开销、码本计算准确性测试。
