海南日本日置HIOKI阻抗分析仪IM7587：
阻抗分析仪IM7587 可信赖的机型3GHz
测试电压测量频率：1MHz~3GHz
测量时间：*快0.5ms（模拟测量时间）
测量值偏差：0.07%（用3GHz测量线圈1nH时）
基本精度：±0.65% rdg.
紧凑主机仅机架一半大小，测试头尺寸仅手掌大小
丰富的接触检查（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
分析模式下可以边扫描测量频率、测量信号电平边进行测量
主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪的测试治具。
阻抗分析仪IM7580s：等效电路分析功能
能够以测量结果为基础推测5种等效电路模式的常数。 而且，可以通过模拟功能，使用推测结果或者任意的常数来显示频率特性的理想值。 此外，使用比较器功能，还能够确定测量结果是否在判定区域内。
阻抗分析仪IM7580系列：使用SMD治具IM9201进行LCR测量
IM7580系列5种机型的测量频率覆盖了1MHz?3GHz。
和用于6种尺寸SMD的测试治具IM9201组合使用，能够简单准确的测量样品。
阻抗分析仪IM7580系列：区域判定功能
分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。 “区域判定功能”是设置上限值和下限值的范围，并以IN/NG来显示判定结果。
阻抗分析仪IM7580系列：峰值判定功能
分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
“峰值判定功能”是以上限值、下限值、左限制、右限值来设置范围，并以IN/NG来显示测量的峰值是否在判定区域内。
阻抗分析仪IM7580系列：SPOT判定功能
分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
“SPOT判定功能”是选择任意的扫描点和参数，*多进行16点的判定。
阻抗分析仪IM7580系列：比较器功能
使用比较器功能，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
适用于判定样品是否合格的功能。
阻抗分析仪IM7580系列：接触检查功能
使用接触检查功能，能够检查样品和测量端口的接触状态，并确认接触不良情况和连接状态。
阻抗分析仪IM7580系列：测试头的连接方法
测试头的连接线连接阻抗分析仪。
稍微弯曲扭力扳手的手柄后拧紧螺母（0.56 N?m）。
请注意不要拧过头。
| 测量模式 | LCR (LCR测量),分析仪 (扫频测量), 连续测量 |
|---|---|
| 测量参数 | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
| 精度保证范围 | 100 mΩ~5 kΩ |
| 显示范围 | Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99) θ: ± (0.000°~180.000°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF) D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS) G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %) |
| 基本精度 | Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38° |
| 测量频率 | 1 MHz?3 GHz (设置分辨率100 kHz) |
| 测量信号电平 | 功率 (dBm)模式： -40.0 dBm~ +1.0 dBm 电压(V) 模式: 4 mV~502 mVrms 电流(I) 模式: 0.09 mA~10.04 mArms |
| 输出阻抗 | 50 Ω (10 MHz时) |
| 显示 | 彩色TFT 8.4英寸, 触摸屏 |
| 测量时间 | *快0.5ms（FAST、模拟测量时间、代表值） |
| 功能 | 接触检查、比较器、BIN判定（分类功能）、面板读取/保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿 |
| 接口 | EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN RS-232C (选件), GP-IB (选件) |
| 电源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max |
| 体积和重量 | 主机: 215W × 200H × 348D mm, 8.0 kg 测试头: 90W × 64H × 24D mm, 300 g |
| 附件 | 测试头×1, 连接线×1, 使用说明书×1, CD-R (通讯说明书) ×1, 电源线×1 |
