镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
由佳谱仪器研发生产的X荧光镀层测厚仪，以R-350型机器为例向您演示从仪器接线到能量校准到测样到打印报告的详细过程。
佳谱仪器座落于江苏省苏州市高新区，公司专注于工业X荧光光谱仪的研发、生产、销售及服务，拥有国内外*的X荧光分析技术领域的*队伍，具有雄厚的技术实力、*的技术、服务理念和*的管理模式。
主要产品：ROHS分析仪、合金元素分析仪、镀层分析仪、土壤重金分析仪、食品重金属分析仪、矿石分析仪、耐火材料分析仪、古董分析仪、测硫仪。
公司始终以市场为导向，以人才为根本，坚持科技创新，生产规模日益壮大，各项经济指标呈飞速上升的趋势，不仅研发及生产能力位同行前列，在ROHS检测、合金、贵金属分析等技术领域也取得了创造性成果，公司在多年的生产和经营中，荣获多项荣誉（拥有高新技术企业、软件和硬件）始终遵奉“以客为尊”、“以质为荣”、“持续改进”、“争创”的经营理念；坚持以市场为核心，产品不断创新精益求精。竭诚欢迎各行业用户莅临参观考察、洽谈合作！公司网址：www.jspecsz.com
