TS-360闪存 Flash/EMMC 高低温测试
成都中冷低温科技有限公司ThermoTest 高低温循环测试机闪存温度测试应用
闪存(Flash Memory)，是非挥发性内存的一种，不需电力来维持数据的储存，可分为 NOR Flash 以及 NAND Flash 两种，前者用于储存程序代码，后者用于储存数据。闪存应用范围涵盖汽车电子、因特网、存储器、DSL 电缆调制解调器、数字电视、照相手机、蓝芽、 GPS、工业电子等。
闪存温度测试原因
为确保闪存可在极端温度环境(例如: 油气探勘、重工业以及航空领域)可正常实现稳健的闪存读／写操作功能，因此在出厂前需要进行温度测试，ThermoTest 高速高低温循环测试机凭借可测试温度 -100 ℃ 至 +350
℃，快速的温变速率，温度精度 +-1.0℃等优势广泛应用于闪存制造行业。
闪存温度测试方法:
通过与爱德万 (Advantest ) 内存 IC 测试系统搭配之下，客户可直接在极端温度下测试闪存的运作特性。根据客户实际要求，成都中冷低温科技选用 TS-360 高低温循环测试机，并提供两种温度操作模式: Air mode 及 DUT mode
闪存多采用 DUT mode 即 Device under
test模式来进行高低温循环测式，将闪存与ThermoTest TS-360 使用 T型热电偶相互连接，如此即可掌控受测物达到机台所设定之温度。闪存高低温测试方法同样适合内嵌式记忆体eMMC 温度测试。ThermoTest高低温测试机可与爱德万 advantest，泰瑞达 teradyne，是德keysight，惠瑞捷 verigy 测试系统联用，进行芯片高低温循环测试。更详细的高低温测试操作方法欢迎致电
