桌上型数位IC测试器
GUT-6000B是一款桌上型IC测试仪。鉴于使测试任务自动化，GUT-6000B包含自动搜索功能和回圈测试功能等高级功能。并提供智慧化连续侦测坏损的IC的功能。自我诊断功能和载保护功能使GUT-6000B更接近零维护，减少了使用者不必要的争议。测试器件达1800多种常见的TTL和COMS器件，真正在数位IC测试领域实现一个机型测量多种器件的解决方案。
Loop 测试
自动搜寻IC 编号功能
开机自我侦测诊断功能
过载保护功能
可量测之IC 种类过1800 种
54/74 系列TTL
4000 及4500 系列CMOS
*可测Pin 数: 28 Pin
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| 详细规格 | ||
| 测试范围 | ||
| ? | 54/74 系列 TTL;4000 及 4500 系列 CMOS;DRIVE | |
| 量测种类 | ||
| ? | 约 1800 种 | |
| 测试电压 | ||
| ? | 2.5/3.0/3.3/5V DC | |
| 测试时间 | ||
| ? | 高测试速度，平均 0.6 秒可完成一个 IC | |
| 使用电源 | ||
| ? | 交流 100V~240V +10%, 50/60Hz | |
| 尺寸及重量 | ||
| ? | 335(宽) x 105(高) x 300(长) mm,约 1.5 公斤 | |
