自贡大安测量仪器校准实验室
仪器校准的周期是校准机构还是实验室定义的？
1、依据
CNAS-CL01中条款7.8.4.3
校准证书(或校准标签)不应包含校准周期的建议，除非已与客户达成协议。该要求可能被法规取代。
明确规定校准实验室不能给出校准周期的建议。校准周期由实验室根据计量器具的实际使用情况，本着科学、经济和量值准确的原则自行确定。
仪器在*次校准之后，第二次校准时间先规定1年，1年后送校准实验室校准还是很“准”(与*次校准比较在误差范围内)，就可定2年了，依次类推.
公众号实验室ISO17025提示,校准周期一般不能过3年，期间一定需安排期间核查，如果发现不稳定情况，就需重新校准。
2、必须按仪器校准规程规的周期校准吗
用户的使用情况是千差万别的，若不加区别的一律机械的按照校准规程规定的周期进行校准，很难保证所有的测量仪器在校准周期内都是合格的。因此，必须按照测量仪器的实际使用情况确定校准周期。但是，由于实际情况相当复杂，要*正确确定校准周期，是难以办到的，只能要求大体上正确、合理，使实际情况更加完善、科学，更加经济合理。
盲目的缩短校准周期将造成社会资源的浪费，对测量仪器的寿命、准确度及生产和人力也将带来不利影响。而单纯由于资金缺乏或人员不够而延长校准周期将是十分危险的，可能由于使用不准确的测量仪器带来更大的风险甚至严重的后果。
3、确定仪器校准周期的依据
(1)使用的频繁程度。使用频繁的测量仪器，容易使其计量性能降低，故可以缩短校准周期来解决。当然，提高测量仪器所用的原材料性质、制造工艺和使用寿命也是重要的手段。
(2)测量准确度的要求。要求准确度高的单位，可适当缩短校准周期。各个单位要根据自己的实际情况决定，需要什么准确度等级，就选择什么等级。该高就高，该低就低，不盲目追求高准确度，以免造成不必要的损失;但精度过低，满足不了使用要求，给工作带来损失，也是不可取的。
(3)使用单位的维护保养能力。如果单位的维护保养比较好，则适当缩短校准周期;反之，则长一些。
(4)测量仪器的性能，特别是长期稳定性和可靠性的水平。即使同类型的测量仪器，稳定性、可靠性差的，校准周期应短一些。
(5)对产品质量关系较大的，以及有特殊要求的测量仪器，其校准周期则相对短一些;反之，则长一些。
4、4种确定校准的方法
1.统计法：
根据测量仪器的结构、预期可靠性和稳定性的相似情况，将测量仪器初步分组，然后根据一般的常规知识初步确定各组仪器的校准周期。
对每一组测量仪器，统计在规定周期内差或其他不合格的数目，计算在给定的周期内，这些仪器与该组合格仪器数之比。在确定不合格测量仪器时，应排除明显损坏或由用户因可疑或缺陷而返回的仪器。如果不合格仪器所占的比例很高，应缩短校准周期。
如果证明不合格仪器所占的比例很低，则延长校准周期可能是经济合理的。如果发现某一分组的仪器(或某一厂家制造的或某一型号)不能和组内其他仪器一样工作时，应将该组划为具有不同周期的其他组。
2.小时时间法：
这种方法是确认仪器校准周期以实际工作的小时数表示。可以将测量仪器与计时指示器相连，当指示器达到规定值时，将该仪器送回校准。这种方法在理论上的主要优点是，进行确认的仪器数目和确认费用与使用的时间成正比，此外可自动核对仪器的使用时间。
例如我们使用某公司的示波器，不用连接计时器，可以直接在示波器上查到连续使用了多长时间，很方便管理。
但是，这种方法在实践中有下列缺点:
(1)当测量仪器在储存、搬运或其他情况发生漂移或损坏时，则不应使用本方法;
(2)提供和安装合适的计时器，起点费用高，而且由于可能受到使用者干扰而需要在下进行，又增加了费用。
3.比较法：
当每台测量仪器按规定的的校准周期进行校准，将校准数据和前几次的校准数据相比，如果连续几个周期的校准结果均在规定的允许范围内，则可以延长它的校准周期;如果发现出允许的范围，则应缩短该仪器的校准周期。
4.图表法：
测量仪器在每次校准中，选择有代表性的同一校准点，将它们的校准结果按时间描点，画成曲线，根据这些曲线计算出该仪器一个或几个校准周期内的有效漂移量，从这些图表的数据中，可推算出*的校准周期。
5、仪器校准周期可以自己规定吗?
一般仪器校准后证书上都会一年一校准，有人说一些设备是完全不用每年都校准的。设备的校准周期可以自己规定吗?如果按自己规定的周期校准的话评审组认可吗?
*是自己规定校准周期，因为校准周期是和设备的使用情况相关的。校准周期可以自己确定，但同时还要参照国内的计量法要求(如果你们申请的是CNAS认可)。可以调整设备校准周期，但前提是你们必须给出调整后的合理依据，否则，审核时仍然不会被接受。
6、仪器校准的问题应该问仪器设备公司吗?
仪器校准公司不了解设备的使用频率、保养情况、使用环境等因素，他给你定的校准周期不一定合理，比如一把钢尺，保管得很好，一年就用两三次;另一把钢尺，随便放工作台上，*8个小时都在用;校准公司给的校准周期肯定都是1年1次，这样对*把尺子校准周期太短了，对第二把尺子校准周期又太长，三五个月可能就失准了。仅对于企业实验室，第三方实验室因为要通过资质认定，要求不一样，可能很多设备都需要。
7、仪器校准周期和期间核查的联系
*有规定在校准周期内，设备维修、更换关键零部件、仪器迁移等要重新校准，在校准周期内还要进行设备的期间核查，来保证设备的稳定性和准确性。如果设备，这里指的是设备而不是尺子、圆规等，自己定义校准周期则要小于*规定的周期。
实验室可以根据仪器特点，使用频率等等特性，自定义校准周期，只要保证设备处于正确使用状态，能达到预期使用即可。通常需要提供期间核查等措施，来证明仪器处于良好状态。但校准周期也不是越长越好，因为时间越长，可靠性越差。
校正光学系统像差原则十条：
世通检测分享的校正光学系统像差原则十条如下：
(1)各光组以至各面的像差分布要合理。在考虑初始结构时，可将要校正的像差列成用P、W表示的方程组，这种方程组可能有多组解，也可能是病态的，或无解。若是前者，应选一合理的解;若是后者，应取*小二乘解。之，有多种解方程组的算法可资利用，在计算机上实现并不困难。然后，应尽量做到各个面上以较小的像差值相抵消，这样就不至于会有很大的高级像差。在此，各透镜组的光焦度分配、各个面的偏角负担要尽量合理，要力求避免由各个面的大像差来抵消很多面的异号像差。
(2)相对孔径h/r或入射角很大的面即曲率半径小的面，一定要使其弯向光阑，以使主光线的偏角或 ip角尽量小(即降低主光线的投射高)，以减少轴外像差。反之，背向光阑的面只能有较小的相对孔径。
(3)像差不可能校正到*无缺的理想程度，*的像差应有合理的匹配。这主要是指：轴上点像差与各个视场的轴外像差要尽可能一致，以便能在轴向离焦时使像质同时有所改善;轴上点或近轴点的像差与轴外点的像差不要有太大的差别，使整个视场内的像质比较均匀，至少应使0.7视场范围内的像质比较均匀。为确保0.7视场内有较好的质量，必要时宁愿放弃全视场的像质(让他有更大像差)。因为在0.7视场以外已非成像的主要区域，当画幅为矩形时(如照相底片)，此区域仅是像面一角，其像质的相对重要性可以较低些。
(4)挑选对像差变化灵敏、像差贡献较大的表面改变其半径。当系统中有多个这样的面时，应挑选其中既能改良所要改的那种像差，又能兼顾其他像差的面来进行修改。在像差校正的*阶段尚需对某一、二种像差做微量修改时，作单面修改也是能奏效的。
(5)若要求单色像差有较大变化而保持色差不变，可对某个透镜或透镜组作整体弯曲。这种做法对消除色差和匹兹瓦以外的所有像差均属有效。
(6)利用折射球面的反常区。在一个光学系统中，负的发散面或负透镜常是为校正正透镜的像差而设置，它们只能是少数。因此，让正的会聚面处于反常区，使其在对光起会聚作用的同时，产生与发散面同号的像差就显得特别有利。设计者应善于利用这一性质。
(7)利用透镜或透镜组处于特殊位置时的像差性质。例如，处于光阑或与光阑位置接近的透镜或透镜组，主要用于改变球差和彗差(用整体弯曲的方法);远离光阑位置的透镜或透镜组，主要用来改变像散、畸变和倍率色差。在像面或像面附近的负场镜可以用来校正像面弯曲。
(8)对于对称型结构的光学系统，可以选择成对的对称参数进行修改。作对称性变化以改变轴向像差，作非对称变化以改变垂轴像差。
(9)利用胶合面改变色差或其他像差，并在必要时调换玻璃。可以在原胶合透镜中更换等折射率不等色散的玻璃，也可在适当的单块透镜中加入一个等折射率不等色散的胶合面。胶合面还可用来校正其他像差，尤其是高级像差。此时，胶合面二边应有适当的折射率差，可根据像差的校正需要，使它起会聚或发散作用，半径也可正可负，从而在像差校正方面得到很大的灵活性。同时，在需要改变胶合面二边的折射率差以改变像差的形态、或微量控制某种高级像差，以及需要改变某透镜所承担的偏角等场合，都能通过调换玻璃而奏效。
(10)合理的拦截光束和选定光阑位置。孔径和视场都比较大的光学系统，轴外的宽光束常表现出很大的球差和彗差，使y'~tgU'特性曲线上下很不对称。原则上，应首先立足于把像差尽可能校正好，在确定无法把宽光束部分的像差校正好的情况下，可以把光束中y’值变化大的外围部分光线拦去，以消除其对像质的有害影响，并在设计的*阶段，根据像差校正需要*终确定光阑位置linji876。
