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雷达测试仪是通过微波来测量运动物体的速度，它基于多普勒原理，既当微波照射到运动的物体上时，会产生一个与运动物体速度成比率的一个变化，其变化大小正比于物体运动的速度。如当目标离雷达天线越近时，反射信号频率将高于发射机频率，反之，亦然。雷达枪就是根据这一原理研制的。
雷达发射的微波以一个扇型的方式出去（S1），在照射区域内的目标会对微波形成一个反射（S2），其中依据实际测量的要求，雷达又分为两种工作模式：一种是静态工作模式，一种是动态工作模式。所谓静态：即雷达静止不动（不在运动的巡逻车内），测迎面来的汽车或同向远离的汽车。所谓动态：既雷达处于运动状态（一般在运动的巡逻车内），测迎面来的汽车或同向远离的汽车，在动态情况下，测试一般又分为反向测量和同向测量，反向测量：测试的目标和巡逻车的运动方向相反，同向测量：测试的目标和巡逻车的运动方向相同。选用不同的测试状态，雷达使用不同的运算规则。雷达本身不易判别目标的运动方向。。
日常我们经常用的方法有光谱测温技术、全息干涉测温技术、基于CCD的三基色测温技术、以及如下所示的红外辐射测温技术：.非接触式红外热成像仪接触式测量法接触式测温仪温度一般有热电偶和热电阻两种：热电偶的工作原理是基于塞贝克(seeback效应)，两种不同成分的导体两端连接成回路，如两连接端温度不同，则在回路内产生热电流的物理现象，利用此现象来测量温度。热电阻的测量原理是根据温度变化时本身电阻也变化的特性来测量温度。
先测试出可控硅的峰值电压，将电线正负极连接至K两极，接地线接至室内主接地上，逐渐升压，测试其漏电流数值。进行漏电测试后，逐渐升压，观测漏电流，当数值过其额定峰值电压后，可控硅被击穿，但采用此方法可能会破坏其PN结，并且只能测试其是否导通，而不能测试其导通是否良好，故不再采用此法进行测试。摇表测试法用摇表对可控硅进行测量，参照之前使用的漏电检测法。为防止摇表法测试过程中击穿或损坏可控硅，改变摇表操作方法，即要对摇表电压和转速进行控制，两笔端链接K极对其进行测试。
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在黑暗环境里，它的电阻值很高，当受到光照时，只要光子能量大于半导体材料的禁带宽度，则价带中的电子吸收一个光子的能量后可跃迁到导带，并在价带中产生一个带正电荷的空穴，这种由光照产生的电子—空穴对了半导体材料中载流子的数目，使其电阻率变小，从而造成光敏电阻阻值下降。光照愈强，阻值愈低。入射光消失后，由光子激发产生的电子—空穴对将复合，光敏电阻的阻值也就恢复原值。在光敏电阻两端的金属电极加上电压，其中便有电流通过，受到波长的光线照射时，电流就会随光强的而变大，从而实现光电转换。光敏电阻没有极性，纯粹是一个电阻器件，使用时既可加直流电压，也加交流电压。半导体的导电能力取决于半导体导带内载流子数目的。
滤波器在通信、军事、测试测量等领域应用广泛，尤其在近几年的在微波及毫米波电路中有着广泛的应用。在低频段的应用中，集参数滤波器有着良好的表现，但是随着频率升高到微波频段以上，集参数元件(电容、电感)的Q值急剧下降，造成滤波器的插入损耗太大，这时就必须用分布参数元件来代替集参数元件，但是分布参数元件滤波器的尺寸一般较大，因此有必要减小微波毫米波电路滤波器的尺寸。年香港城市大学薛泉教授提出了一种紧凑的微带谐振器(CMRC)，此后螺旋紧凑微带谐振器(SCMRC)以及直线紧凑微带谐振器(BCMRC)又相继被提出。
光敏电阻的工作原理是基于内光电效应。在半导体光敏材料两端装上电极引线，将其封装在带有透明窗的管壳里就构成光敏电阻，为了增加灵敏度，两电极常做成梳状。用于制造光敏电阻的材料主要是金属的硫化物、硒化物和碲化物等半导体。通常采用涂敷、喷涂、烧结等方法在绝缘衬底上制作很薄的光敏电阻体及梳状欧姆电极，接出引线，封装在具有透光镜的密封壳体内，以免受潮影响其灵敏度。
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红外热像仪特点热像仪是一种进的科技产品，与传统的检测工具相比较，具有自己鲜明的特点：1.热像仪可以对运动的物体进行测温，而普通测温仪表很难做到这一点；2.可以借助显微镜头对直径为几微米或更小的目标进行测温；3.可以快速进行设备的热诊断；4.灵敏度高，根据其型号的不同，可以分辨0.1℃或者更小的温差；5.不会对所测量的温度场产生干扰。这是比直接接触测温的仪器如热电偶的优越之处。测温范围大。根据型号的不同，一般热像仪均可测量0℃-2000℃的范围；7.使用安全。stwg139wei
