近红外分光辐射计 SR-NIR
产品概要：
近年来，在显示器及照明市场上，对“近红外领域”的测定需求日渐增多。
之前，行业内并没有一款能够简便且高精度测定近红外光的相关仪器。
TOPCON在通过开发生产SR系列分光辐射度计所培育并积累起来的技术基础之上，
开发出了“SR-NIR近红外分光辐射度计”。
本产品和其他型号的SR系列分光辐射度计一并使用，能够测定380nm-1030nm的分光辐射亮度。
特点：
￭ 能测定从FPD到微弱发光的近红外领域。
￭ 高精度测定近红外领域(600～1030nm)的分光分布。
￭ 和本公司其他型号的分光辐射度计一并使用时，能够测定可见光～近红外光（380～1030nm）的分光分布。
主要用途：
￭ 观察各类FPD的近红外领域的输出。
￭ 观察Ne、Ar的光谱线输出。
￭ 光学膜等的近红外透过特性评价。
￭ 其他光源的近红外分光测量
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光亮采集 |
电子冷却型线性阵列传感器 |
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波长分散原理 |
衍射光栅 |
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光学系统 |
对物镜 : f= 82mm F2.5, 目镜 : 观测视野 5° |
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测定角 |
2°/1°/0.2°/0.1° (电动切换式) |
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*小测定直径(mmφ) |
2° : 10.0, 1° : 4.99, 0.2° : 1.00, 0.1° : 0.50 (mmφ) |
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测定距离 |
350mm – ∞ (从物镜金属件前端开始的距离) |
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测定波长范围 |
600 – 1030nm |
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光谱波宽 |
6 – 8nm (半波宽) |
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波长分解能力 |
1nm |
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测定模式 |
自动/手动 (积分时间/频率）、外部垂直同步信号输入 |
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测定内容 |
分光辐射亮度 : W･sr-1･m-2･nm-1 |
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测定范围(*1) |
2.0° : 0.5 – 3,000 cd/m2 |
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重复精度(*2) |
±2% 以下 |
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偏光特性 |
分光辐射亮度 5％ 以下 |
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校正基准 |
本公司校正基准*标准A光源、23℃±3℃、65% RH以下 |
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测定时间(*3) |
约 1 – 31 秒 |
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界面 |
RS-232C, USB 2.0 |
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电源 |
AC电源适配器 AC100V-240V, 50/60Hz, |
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功率 |
约 34W |
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使用条件 |
温度: 5 – 35℃, 湿度: 80%RH 以下 (且无凝露) |
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外形尺寸(W×D×H) |
150×406×239mm |
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质量 |
约 5.5kg |
