华能选频电平表 HN5018A数字电平振荡器规格齐全 数字示波器的发展的降低了低速总线调试的难度，无论是IISPI还是CAN、LIN等，示波器都可以直接将波形转化成数据。传闻近日有一台示波器可以直接30多种通信协议，具体是那些协议呢？在讲示波体的内容之前，来看一下伴随着示波器的发展，协议出现了哪些变化。简述示波器发展给协议带来的便捷示波器从模拟示波器发展到数字示波器，带来了许多大的改变，信号采集、带宽、采样率、屏显等。
HN5018选频电平表（手持式）电平振荡器
适用于通信系统对基带特性的测试，特别适用于电力载波通信设备和电力保护高频通道的调试、开通、维护测试，以及大专校相关*的教学和实验。
仪表采用 ARM 微功耗、高性能微处理技术，3.5 〞彩色 LCD 显示，全中文菜单式界面，数字键盘式操作，内置可充电锂电池，交 / 直流供电。使得仪器体积小，重量轻，功能强大，性能稳定，显示清晰，操作十分简便。
测量数据自动存贮，可以在本机查询，也可以通过 USB 口到 U 盘，传输到 PC 机处理或打印报表。仪表具有自动电平校准、自动量程切换、 AFC 频率自动跟踪、快速自动搜索、近端同步测量、远端双机自动对测、
阻抗测量、杂音测量等功能。
HN5018 手持选频电平主要技术特性
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频率范围 |
宽频测量 200Hz～1700kHz （平衡600Ω，200Hz～620kHz） |
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选频测量 |
B=25Hz 200Hz～1700kHz（平衡600Ω，200Hz～620kHz） |
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B=1.74kHz 4kHz～1700kHz（平衡600Ω，4kHz～620kHz） |
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频率调节 |
数字键或增量上 / 下键输入，频率误差 ±1×10 -6 ±1Hz ，增量调节步长由用户设定， AFC 全频段跟踪 |
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AFC 全频段跟踪，捕捉带 B=25Hz ：约 ±50Hz; B=1.74k Hz ：约 ±500Hz ； |
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自动搜索功能，可搜索电平-80dB |
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电平范围 |
宽频测量 -50dB～+50dB |
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选频测量 |
B=25Hz -80dB～+50dB |
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B=1.74kHz -70dB～+50dB |
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电平显示器 |
LCD汉字图形显示，菜单式操作，测量结果有数字和模拟棒两种指示。分辨率0.01dB，具有dB、dBm、mV三种单位显示 |
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电平范围 |
宽频测量 -50dB～+50dB |
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选频测量 |
B=25Hz -80dB～+50dB |
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B=1.74kHz -70dB～+50dB |
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电平显示器 |
LCD汉字图形显示，菜单式操作，测量结果有数字和模拟棒两种指示。分辨率0.01dB，具有dB、dBm、mV三种单位显示 |
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输入阻抗 |
不平衡：75Ω、∞， 高电平输入：≈30kΩ |
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平衡：600Ω、150Ω、∞ |
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电平测量误差 |
具有0dB电平自动校正，0dB固有误差：±0.1dB，电平线性误差：±0.25dB |
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频率选择性 |
两种带宽 |
B=25Hz 3dB带宽约24Hz |
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B=1.74kHz 3dB带宽约1.74kHz |
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中频衰减 ≥60dB； 镜象频率衰减 ≥70dB |
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固有失真衰减 |
≥ 60dB |
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回波损耗 |
≥30dB |
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机内固有噪音 |
＜ -100dB |
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纵向干扰衰减 |
≥40dB |
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HN5019手持电平振荡器主要技术特性
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频率误差 |
±1×10-6±1Hz，分辨率1Hz |
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输出电平与阻抗 |
不平衡0Ω -77.9dB～+20dB，允许外接75Ω |
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不平衡75Ω -77.9dB～+14dB，（-68.9dBm～+23dBm） |
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平衡 0Ω -71.9dB～+20dB |
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平衡150Ω -77.9dB～+20dB，（-71.9dBm～+26dBm） |
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平衡600Ω -77.9dB～+20dB |
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电平显示器 |
LCD汉字图形显示，菜单式操作， 电平数字指示，具有dB、dBm、mV 三种单位显示 |
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频率与电平调节 |
采用数字键或增量上 /下键输入 |
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增量调节:频率、电平步长由用户设定 |
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输出电平误差 |
0dB固有误差 ±0.1dB |
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电平线性误差 ±0.2dB |
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输出信号平衡度 |
≥40dB |
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失真衰减 |
二、三次谐波衰减 ≥46dB |
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非谐波和杂散衰减 ≥46dB |
毋庸置疑，这种运营方式代价高昂，更不必说这绝不可能是无懈可击的全天候控制过程。多年来，采矿工业极为关心泄漏和水资源管理对环境的影响，并且一直在积极寻求改进监控方法。”考虑到这些需求，IntelliView开发出一种行之有效的、能在数秒钟之内检测和报警小规模地上液体泄漏、喷射和汇聚成池的方法。IntelliView的泄漏检测解决方案采用新一代称之为DCAM?(双摄像头分析模块)的产品，一款将可见光相机和FLIR热像仪与内置型泄漏分析技术集于一体的紧凑型产品。18年1月3日，NI(美国仪器，NationalInstruments,简称NI)作为致力于为工程师和科学家提供基于平台的系统解决方案来应对严峻工程挑战的供应商，宣布推出PXIe-4163高密度源测量单元(SMU)，该测量单元提供了比以往NIPXISMU高达6倍的直流通道密度，适用于测试RMEMS以及混合信号和其他模拟半导体元件。NI销售和市场执行副裁EricStarkloff表示：“5物联网和自动驾驶汽车等性的技术发展给半导体企业带来持续的压力。
