华能数字式选频电平表 HN5018A数字电平振荡器操作方法 同样，这样的改变也体现在“协议”上，新的方式将人们从“0”，“1”的世界中解放出来，大大提高了工作效率。0/1的世界下面，我们具体看一下示波器发展中协议方式的变化。初的协议初的示波器只是一个简单的波形显示兼数据测量，而我们需要获取协议波形深层次的含义，则需要一段一段去分析。：观察IIC协议，一个时钟信号，一个数据信号，我们需要按照时钟与数据信号一位一位对应，去进行0/1的组合转换，将其“翻译”成我们需要形式，再去对应相应的物理量。
HN5018选频电平表（手持式）电平振荡器
适用于通信系统对基带特性的测试，特别适用于电力载波通信设备和电力保护高频通道的调试、开通、维护测试，以及大专校相关*的教学和实验。
仪表采用 ARM 微功耗、高性能微处理技术，3.5 〞彩色 LCD 显示，全中文菜单式界面，数字键盘式操作，内置可充电锂电池，交 / 直流供电。使得仪器体积小，重量轻，功能强大，性能稳定，显示清晰，操作十分简便。
测量数据自动存贮，可以在本机查询，也可以通过 USB 口到 U 盘，传输到 PC 机处理或打印报表。仪表具有自动电平校准、自动量程切换、 AFC 频率自动跟踪、快速自动搜索、近端同步测量、远端双机自动对测、
阻抗测量、杂音测量等功能。
HN5018 手持选频电平主要技术特性
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频率范围 |
宽频测量 200Hz～1700kHz （平衡600Ω，200Hz～620kHz） |
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选频测量 |
B=25Hz 200Hz～1700kHz（平衡600Ω，200Hz～620kHz） |
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B=1.74kHz 4kHz～1700kHz（平衡600Ω，4kHz～620kHz） |
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频率调节 |
数字键或增量上 / 下键输入，频率误差 ±1×10 -6 ±1Hz ，增量调节步长由用户设定， AFC 全频段跟踪 |
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AFC 全频段跟踪，捕捉带 B=25Hz ：约 ±50Hz; B=1.74k Hz ：约 ±500Hz ； |
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自动搜索功能，可搜索电平-80dB |
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电平范围 |
宽频测量 -50dB～+50dB |
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选频测量 |
B=25Hz -80dB～+50dB |
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B=1.74kHz -70dB～+50dB |
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电平显示器 |
LCD汉字图形显示，菜单式操作，测量结果有数字和模拟棒两种指示。分辨率0.01dB，具有dB、dBm、mV三种单位显示 |
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电平范围 |
宽频测量 -50dB～+50dB |
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选频测量 |
B=25Hz -80dB～+50dB |
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B=1.74kHz -70dB～+50dB |
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电平显示器 |
LCD汉字图形显示，菜单式操作，测量结果有数字和模拟棒两种指示。分辨率0.01dB，具有dB、dBm、mV三种单位显示 |
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输入阻抗 |
不平衡：75Ω、∞， 高电平输入：≈30kΩ |
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平衡：600Ω、150Ω、∞ |
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电平测量误差 |
具有0dB电平自动校正，0dB固有误差：±0.1dB，电平线性误差：±0.25dB |
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频率选择性 |
两种带宽 |
B=25Hz 3dB带宽约24Hz |
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B=1.74kHz 3dB带宽约1.74kHz |
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中频衰减 ≥60dB； 镜象频率衰减 ≥70dB |
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固有失真衰减 |
≥ 60dB |
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回波损耗 |
≥30dB |
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机内固有噪音 |
＜ -100dB |
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纵向干扰衰减 |
≥40dB |
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HN5019手持电平振荡器主要技术特性
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频率误差 |
±1×10-6±1Hz，分辨率1Hz |
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输出电平与阻抗 |
不平衡0Ω -77.9dB～+20dB，允许外接75Ω |
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不平衡75Ω -77.9dB～+14dB，（-68.9dBm～+23dBm） |
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平衡 0Ω -71.9dB～+20dB |
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平衡150Ω -77.9dB～+20dB，（-71.9dBm～+26dBm） |
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平衡600Ω -77.9dB～+20dB |
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电平显示器 |
LCD汉字图形显示，菜单式操作， 电平数字指示，具有dB、dBm、mV 三种单位显示 |
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频率与电平调节 |
采用数字键或增量上 /下键输入 |
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增量调节:频率、电平步长由用户设定 |
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输出电平误差 |
0dB固有误差 ±0.1dB |
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电平线性误差 ±0.2dB |
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输出信号平衡度 |
≥40dB |
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失真衰减 |
二、三次谐波衰减 ≥46dB |
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非谐波和杂散衰减 ≥46dB |
相比于传统的单/双极化天线及4/8通道天线，大规模天线技术能够通过不同的维度（空域、时域、频域等）提升频谱效率和能量的利用效率；3D赋形和信道估计技术可以自适应地调整各天线阵子的相位和功率，显著提升系统的波束指向准确性，将信号强度集中于特定指向区域和特定用户群，在增强用户信号的同时可以显著降低小区内干扰、邻区干扰，是提升用户信号SINR的技术。如何评价大规模多天线技术，针对协议上有关大规模多天线技术的设计及算法，采用什么样的测试指标和测试方法；怎样衡量大规模天线系统整体性能，大规模量产时整体的系统怎样验证；大规模天线系统在不同应用部署场景下，场景下性能如何验证；都是需要从测试角度充分考虑的问题。
