青岛华能手持式电平振荡器接线图例 选频电平表 测量单元的测量频率为500-1000HZ，采用电子同步控制单元实现3台设备的同步采样，可连续检测，根据检测数据模拟出整根线、棒（管）材的直线度，左、右两台的距离可根据具体情况确定安装位置。自准直法自准直法直线度检测仪可用于圆管外径的直线度检测。平行光仪器是将和准直望远镜结合为一体的一台仪器。光源将位于物镜焦平面（物镜焦距=f）的分划板投射至无穷远（准直光出射），经过平面反射镜返回的准直光经物镜后再次成像于同样位于物镜焦平面（共焦系统）的光电传感器的探测面上，当反射镜发生了α角度的偏转后，返回的分划板在光电传感器上的像会产生ΔS的位移，通过测量出ΔS值，即可准确计算出平面反射镜的偏转角度。
HN5018选频电平表（手持式）电平振荡器
适用于通信系统对基带特性的测试，特别适用于电力载波通信设备和电力保护高频通道的调试、开通、维护测试，以及大专校相关*的教学和实验。
仪表采用 ARM 微功耗、高性能微处理技术，3.5 〞彩色 LCD 显示，全中文菜单式界面，数字键盘式操作，内置可充电锂电池，交 / 直流供电。使得仪器体积小，重量轻，功能强大，性能稳定，显示清晰，操作十分简便。
测量数据自动存贮，可以在本机查询，也可以通过 USB 口到 U 盘，传输到 PC 机处理或打印报表。仪表具有自动电平校准、自动量程切换、 AFC 频率自动跟踪、快速自动搜索、近端同步测量、远端双机自动对测、
阻抗测量、杂音测量等功能。
HN5018 手持选频电平主要技术特性
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频率范围 |
宽频测量 200Hz～1700kHz （平衡600Ω，200Hz～620kHz） |
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选频测量 |
B=25Hz 200Hz～1700kHz（平衡600Ω，200Hz～620kHz） |
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B=1.74kHz 4kHz～1700kHz（平衡600Ω，4kHz～620kHz） |
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频率调节 |
数字键或增量上 / 下键输入，频率误差 ±1×10 -6 ±1Hz ，增量调节步长由用户设定， AFC 全频段跟踪 |
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AFC 全频段跟踪，捕捉带 B=25Hz ：约 ±50Hz; B=1.74k Hz ：约 ±500Hz ； |
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自动搜索功能，可搜索电平-80dB |
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电平范围 |
宽频测量 -50dB～+50dB |
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选频测量 |
B=25Hz -80dB～+50dB |
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B=1.74kHz -70dB～+50dB |
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电平显示器 |
LCD汉字图形显示，菜单式操作，测量结果有数字和模拟棒两种指示。分辨率0.01dB，具有dB、dBm、mV三种单位显示 |
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电平范围 |
宽频测量 -50dB～+50dB |
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选频测量 |
B=25Hz -80dB～+50dB |
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B=1.74kHz -70dB～+50dB |
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电平显示器 |
LCD汉字图形显示，菜单式操作，测量结果有数字和模拟棒两种指示。分辨率0.01dB，具有dB、dBm、mV三种单位显示 |
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输入阻抗 |
不平衡：75Ω、∞， 高电平输入：≈30kΩ |
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平衡：600Ω、150Ω、∞ |
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电平测量误差 |
具有0dB电平自动校正，0dB固有误差：±0.1dB，电平线性误差：±0.25dB |
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频率选择性 |
两种带宽 |
B=25Hz 3dB带宽约24Hz |
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B=1.74kHz 3dB带宽约1.74kHz |
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中频衰减 ≥60dB； 镜象频率衰减 ≥70dB |
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固有失真衰减 |
≥ 60dB |
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回波损耗 |
≥30dB |
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机内固有噪音 |
＜ -100dB |
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纵向干扰衰减 |
≥40dB |
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HN5019手持电平振荡器主要技术特性
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频率误差 |
±1×10-6±1Hz，分辨率1Hz |
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输出电平与阻抗 |
不平衡0Ω -77.9dB～+20dB，允许外接75Ω |
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不平衡75Ω -77.9dB～+14dB，（-68.9dBm～+23dBm） |
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平衡 0Ω -71.9dB～+20dB |
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平衡150Ω -77.9dB～+20dB，（-71.9dBm～+26dBm） |
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平衡600Ω -77.9dB～+20dB |
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电平显示器 |
LCD汉字图形显示，菜单式操作， 电平数字指示，具有dB、dBm、mV 三种单位显示 |
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频率与电平调节 |
采用数字键或增量上 /下键输入 |
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增量调节:频率、电平步长由用户设定 |
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输出电平误差 |
0dB固有误差 ±0.1dB |
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电平线性误差 ±0.2dB |
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输出信号平衡度 |
≥40dB |
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失真衰减 |
二、三次谐波衰减 ≥46dB |
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非谐波和杂散衰减 ≥46dB |
由于并行任务调度规划并不是固定的，在测试运行之前，软件无法确定测试任务的执行次序，从而也就无法确定测试通道的打通次序。那么，只能在测试任务运行时，根据UUT端口和被测参数来动态建立信号链路，并打通相应的通道。并行测试解决思路并行测试技术是对传统串行测试技术的突破和越，思维方式与解决途径都发生了较大的变革，在大幅度提高测试效率的同时也带来了较多的挑战，下面逐一介绍解决思路。测试资源竞争和死锁问题解决思路概括起来讲，测试资源竞争问题解决思路就是八个字“用时申请，用后归还”。
