青岛华能便携式电平振荡器操作方法 选频电平表 两线变送器的电源连接在变送器的输出端。两线变送器调制电源的电流从4?20mA，和输入端成比例。两线变送器的供电电源一般从24V~96V。大的电源可以使输出端的环路负载能力加大很多。过程校验仪现场检测环路电源隔离器Fluke787过程校验仪具有特的电流模拟功能。当连接至外部电源时，可以在0?24mA之间地控制电流。现场检测环路电源隔离器时，两线环路变送器向隔离器提供的电流信号可以被移去，而F787过程校验仪可以用模拟方式控制环路电流。
HN5018选频电平表（手持式）电平振荡器
适用于通信系统对基带特性的测试，特别适用于电力载波通信设备和电力保护高频通道的调试、开通、维护测试，以及大专校相关*的教学和实验。
仪表采用 ARM 微功耗、高性能微处理技术，3.5 〞彩色 LCD 显示，全中文菜单式界面，数字键盘式操作，内置可充电锂电池，交 / 直流供电。使得仪器体积小，重量轻，功能强大，性能稳定，显示清晰，操作十分简便。
测量数据自动存贮，可以在本机查询，也可以通过 USB 口到 U 盘，传输到 PC 机处理或打印报表。仪表具有自动电平校准、自动量程切换、 AFC 频率自动跟踪、快速自动搜索、近端同步测量、远端双机自动对测、
阻抗测量、杂音测量等功能。
HN5018 手持选频电平主要技术特性
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频率范围 |
宽频测量 200Hz～1700kHz （平衡600Ω，200Hz～620kHz） |
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选频测量 |
B=25Hz 200Hz～1700kHz（平衡600Ω，200Hz～620kHz） |
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B=1.74kHz 4kHz～1700kHz（平衡600Ω，4kHz～620kHz） |
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频率调节 |
数字键或增量上 / 下键输入，频率误差 ±1×10 -6 ±1Hz ，增量调节步长由用户设定， AFC 全频段跟踪 |
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AFC 全频段跟踪，捕捉带 B=25Hz ：约 ±50Hz; B=1.74k Hz ：约 ±500Hz ； |
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自动搜索功能，可搜索电平-80dB |
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电平范围 |
宽频测量 -50dB～+50dB |
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选频测量 |
B=25Hz -80dB～+50dB |
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B=1.74kHz -70dB～+50dB |
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电平显示器 |
LCD汉字图形显示，菜单式操作，测量结果有数字和模拟棒两种指示。分辨率0.01dB，具有dB、dBm、mV三种单位显示 |
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电平范围 |
宽频测量 -50dB～+50dB |
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选频测量 |
B=25Hz -80dB～+50dB |
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B=1.74kHz -70dB～+50dB |
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电平显示器 |
LCD汉字图形显示，菜单式操作，测量结果有数字和模拟棒两种指示。分辨率0.01dB，具有dB、dBm、mV三种单位显示 |
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输入阻抗 |
不平衡：75Ω、∞， 高电平输入：≈30kΩ |
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平衡：600Ω、150Ω、∞ |
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电平测量误差 |
具有0dB电平自动校正，0dB固有误差：±0.1dB，电平线性误差：±0.25dB |
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频率选择性 |
两种带宽 |
B=25Hz 3dB带宽约24Hz |
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B=1.74kHz 3dB带宽约1.74kHz |
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中频衰减 ≥60dB； 镜象频率衰减 ≥70dB |
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固有失真衰减 |
≥ 60dB |
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回波损耗 |
≥30dB |
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机内固有噪音 |
＜ -100dB |
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纵向干扰衰减 |
≥40dB |
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HN5019手持电平振荡器主要技术特性
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频率误差 |
±1×10-6±1Hz，分辨率1Hz |
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输出电平与阻抗 |
不平衡0Ω -77.9dB～+20dB，允许外接75Ω |
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不平衡75Ω -77.9dB～+14dB，（-68.9dBm～+23dBm） |
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平衡 0Ω -71.9dB～+20dB |
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平衡150Ω -77.9dB～+20dB，（-71.9dBm～+26dBm） |
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平衡600Ω -77.9dB～+20dB |
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电平显示器 |
LCD汉字图形显示，菜单式操作， 电平数字指示，具有dB、dBm、mV 三种单位显示 |
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频率与电平调节 |
采用数字键或增量上 /下键输入 |
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增量调节:频率、电平步长由用户设定 |
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输出电平误差 |
0dB固有误差 ±0.1dB |
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电平线性误差 ±0.2dB |
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输出信号平衡度 |
≥40dB |
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失真衰减 |
二、三次谐波衰减 ≥46dB |
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非谐波和杂散衰减 ≥46dB |
无论是实验室环境还是生产车间，都需要采用更的半导体测试方法。半导体测试是NI的战略重点。我们正在扩展我们的软件平台和PXI功能，以帮助制造商应对他们面临的挑战，这一点通过NI的PXISMU可以完全体现出来。”由于其高吞吐量、高和占地面积小，NI的半导体测试系统(STS)正在快速应用到生产中。全新的PXIe-4163SMU则进一步增强了这些功能，它能提供更高的直流通道密度，使多站点应用具有更高的并行性，以及在生产中提供实验室级别的测量质量。
