HN7062变压器有载分接开关测试仪作用 华能有载分接开关测试仪

发布时间:2022-01-19
HN7062变压器有载分接开关测试仪作用 华能有载分接开关测试仪 TEMCELL一般只找方值,使测试结果对摆放的位置比较敏感。另外,还有一种测试工具较箱,有的设计公司用来对天线进行有源测试,这种方法很不可行。一方面由于测试距离太近,另一方面由于没有足够的吸波材料,外部干扰对天线的测试影响比较大,这样导致测试结果对位置比较敏感,稍微改变一下位置测试结果就有比较大的改变,因此这种测试方法对天线的性能没有的参考意义。用耦合测试板测试天线性能在生产过程中为了保证产品的生产品质,往往要进行天线的耦合测试。
HN7062C变压器有载分接开关测试仪(有载开关测试仪装置)

有载分接开关是与变压器回路连接的运动部件,因此有载分接开关的检测,越来越引起重视。在《电力设备交接和预防性试验规程》中,要求检查有载分接开关的动作顺序,测量切换时间等。该仪器主要用于测量变压器有载分接开关的过渡波形、过渡时间、各瞬间过渡电阻值、三相同期性等。
二、功能特点
仪器输出电流大,重量轻;
两档电流输出,测试范围更宽,稳定度更高;
能自动计算出过渡电阻值及过渡时间值;
具有完善的保护电路,可靠性强;
5.7寸的大液晶显示,便于现场操作;
具有U盘存储功能,可以存储更多数据波形。
键盘、一键飞梭各自立操作,使仪器可操作性更快捷、方便。
三、技术参数
输出电流   1.0A、0.5A
测量范围   过渡电阻:0.5Ω~20Ω(1.0A)、0.5Ω~40Ω(0.5A)
过渡时间:2ms~250ms
测量精度   过渡电阻:±(5%读数+3字)
过渡时间:±(0.1%读数+3字)
存储方式   U盘存储、本机存储
外形尺寸   345mm×295mm×175mm
仪器重量   5kg
HN7062变压器有载分接开关测试仪作用 华能有载分接开关测试仪
仪器接线  
(1)无绕组接线方法
将测试线黄、绿、红测试钳分别接到调压开关X1(A1)、Y1(B1)、Z1(C1)上,并用短路线分别接到对应的X2(A2)、Y2(B2)、Z2(C2)上,黑色测试钳接到中性点上,测试线的另一端分别接到仪器对应的端子上。带绕组测试与不带绕组测试相比较,前者的动作时间长,约3-7 ms。例如:无绕组测试4分接到5分接的开关动作波形的接线方法(见图2)
(2)调压侧绕组Y型接线中性点引出的变压器的接线方法
拆去被测变压器的三侧引线,将非测试端(通常为中压侧、低压侧)分别三相短路接地。将测试钳黄、绿、红、黑依次夹到被测变压器的调压侧(通常为高压侧)套管的A、B、C三相和中性点上,然后将测试线另一端黄、绿、红、黑线分别接在仪器的A、B、C、N端子上。(见图3A)
(3)调压侧绕组Y型接线中性点没有引出的变压器的接线方法
这种结构的试品在不吊芯情况下,中性点无法引出,只好每两相一测试,例如测A、B两相,接线方法如图3B所示,把C相当作中性点, 操作步骤和带绕组测试方法相同,只是在液晶屏上一次只显示两组波形和数据,数据的分析和有中性点引出的变压器的分析方法相同,只是过渡电阻值需要换算:设测量值为R’,实际值为R,则两相测量时R=1/3R’(如单相测量时则R=1/2R’)。待A、B相测完以后,可以再把A相当作中性点,测量B、C相,或者把B相当作中性点,测量A、C相。其接线方法和数据分析均相同。
(4)调压侧绕组Δ型接线的变压器的接线方法:
测试接线方法同图3,操作步骤和数据的分析和其它变压器测试方法一样,只是过渡电阻值需要换算:设测量值为R’,实际值为R,则两相测量时R=R’,单相测量时R=2/3 R’
注意事项
1.使用仪器时请按本说明书接线和操作。
2.仪器的接地线一定要接好,变压器的低压测要可靠短路接地。
3.由于仪器从电压端子上测频率,因此如果不接电压端子或者试验室里没有输入电压时仪器会认为没有信号而不进行测量。
4.高低压的连接母线要断开,测试钳要夹牢固,与仪器的接线要可靠。
5.仪器的供电尽可能与有载开关的控制电路分开供电。
6.对变压器做实验时,要将有载分接开关测试放在位。当做完直阻试验、耐压试验、空载试验或负载试验时,变压器的铁芯会有剩磁,它会直接影响有载分接开关的测试。
7.当测试波形比较乱时可以多动作开关几十次再做试验,因为如果是新投运的变压器或运行中有载调压不频繁的变压器,它的有载分接开关的触头上会形成一定的氧化膜,多动作是为了将其磨掉,使测试波形正常。

HN7062变压器有载分接开关测试仪作用 华能有载分接开关测试仪
微波暗室由电磁室、滤波与隔离、接地装置、通风波导、室内配电系统、监控系统、吸波材料等部分组成。它是以吸波材料作为衬面的房间,它可以吸收射到六个壁上的大部分电磁能量较好的模拟空间自由条件。暗室是天线设计公司都需要建造的测试设备,因为对于天线的测试比较而且比较系统,其测试指标可以用来衡量一个天线的性能的好与坏。主要是天线公司使用,但其造价昂贵。TEMCELL测TEMCELL测试天线有源指标,因为微波暗室和天线测试系统造价比较昂贵,一般要百万以上,一般的设计和研发公司没有这种设备,而用TEMCELL(也较三角锥)来代替测试。
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