万柏林光谱分析仪校准厂家 客服专员
分析天平的称量方法
不同分析天平有着不同的结构，称量方法也有所不同，那么常见的分析天平的称量方法有哪些呢？
使用分析天平时除应遵循托盘天平有关操作规则外，还应注意：添加砝码、取放称样或其它原因接触天平时应先把天平梁托住，否则易使刀口损坏，这是使用天平规则中重要的一条。
（1）直接称量法：所称固体试样如果没有吸湿性并在空气中是稳定的，可用直接称量法。先在天平上准确称出洁净容器的质量，然后用药匙取适量的试样加入容器中，称出它的质量。这两次质量的数值相减，就得出试样的质量。
万柏林光谱分析仪校准厂家图(1)
（2）减量法：在分析天平上称量一般都用减量法。先称出试样和称量瓶的质量，然后将称量瓶中的试样倒一部分在待盛药品的容器中，到估计量和所求量相接近。倒好药品后盖上称量瓶，放在天平上再称出它的质量。两次质量的差数就是试样的质量。如果一次倒入容器的药品太多，必须弃去重称，切勿放回称量瓶。如果倒入的试样不够可再加一次，但次数宜少。
（3）法：对于性质比较稳定的试样，有时为了便于计算，则可称取质量的样品。用法称量时，在天平盘的两边各放一块表面皿（它们的质量尽量接近），调节天平的平衡点在中间刻度左右，然后在左边天平盘内加上固定质量的砝码，在右边天平盘内加上试样（这样取放试样比较方便），直至天平的平衡点达到原来的数值，这时，试样的质量即为的质量。
4.使用分析天平时除应遵循托盘天平有关操作规则外，还应注意：添加砝码、取放称样或其它原因接触天平时应先把天平梁托住，否则易使刀口损坏，这是使用天平规则中重要的一条。每次称量时，应将天平门关好。加砝码后开启天平时，指针摆幅应控制在2～4格之间。被称样品视其性质放在洁净干燥的称量瓶或表面皿中称量。
万柏林光谱分析仪校准厂家图(2)
ZLG推出一款双通道热电阻隔离测温模块TPS02R，转为敏感电路而设计，充分考虑50Hz工频干扰，如，我司采用多种方案工频干扰，使得TPS02R模块分辨率可达0.01℃，且可以长时间稳定运行。TPS02R系统方案如上图系统方案所示，针对50Hz工频干扰，在“基准缓冲电路”中，采用硬件滤波电路，降低50Hz工频对ADC芯片基准电压的影响。如，本质上是一个电压跟随缓冲电路结合低通滤波器，R1C1针对50Hz滤波，R2R3C2C3针对50Hz高次谐波的过滤。
称量瓶不得用手拿，要用滤纸条夹取。称量结束，要检查天平梁是否托好，砝码是否齐全，有无药品撒落到天平内，天平门是否关紧，布罩是否罩好。天平使用一段时期后，要送计量部门进行和调修。天平的清洁工作每年应进行两次。
分析天平的种类较多：机械式、电子式、手动式、半自动式、全自动式等等。
分析天平的校正方式：可以分为内校型，外校型。所谓内校，就是电子天平带有内部砝码，方便随时调取，一键进行。外校型必须要按校正键，从外部放砝码进行人工校正。
1．检查并调整天平至水平位置。yiqijiaozhun136
2．事先检查电源电压是否匹配（必要时配置稳压器），按仪器要求通电预热至所需时间。
3．预热足够时间后打开天平开关，天平则自动进行灵敏度及零点调节。待稳定标志显示后，可进行正式称量。
4．称量时将洁净称量瓶或称量纸置于称盘上，关上侧门，轻按一下去皮键，天平将自动校对零点，然后逐渐加入待称物质，直到所需重量为止。
5．被称物质的重量是显示屏左下角出现“→"标志时，显示屏所显示的实际数值。
6．称量结束应及时除去称量瓶（纸），关上侧门，切断电源，并做好使用情况登记。
万柏林光谱分析仪校准厂家图(3)
激光测距传感器在宇宙空间探测领域的应用空间激光测距技术在监测大陆板块运动、地壳形变、地球自转，改进地球重力场和地心引力常数，确定地球和海洋潮汐变化的规律，监测空间碎片等方面具有重要作用。它也是当前高精度卫星精密观测的主要手段，是现代各种观测手段中单点采样精度的一种，是支持地球自转与参考系服务（IERS）的技术手段。卫星激光测距技术在如下应用方面已经取得了显著的成就，具有广阔的应用前景。
机械天平
1.慢慢旋动升降枢钮，开启天平，观察指针的摆动范围，如指针摆动偏向一边，可调节天平梁上零点调节螺丝。
2.将要称量的物质从左门放入左盘，按先在托盘天平上称得的初称质量用镊子夹取适当砝码从右门放入右盘，用左手慢慢半升升降枢钮（因天平两边质量相差太大时，全升升降枢钮可能会引起吊耳脱落损坏刀刃），视指针偏离情况由大到小添减砝码。
待克组砝码试好后，再加游码调节。在加游码调节天平平衡过程中，右门必须关闭，这时可以将升降枢钮全部升起，待指针摆动停止后，要使标牌上所指刻度在零点或附近。
智能手机内部有各种不同接口的设备(内存、摄像、声音)。以摄像头接口为例，不同摄像头模组厂商接口形式不同，这给手机厂商设计手机和选择器件带来了很大的难度，因此MIPI应运而生。本文简单介绍MIPI及MIPI-DSI命令捕获方法。对于现代的智能手机来说，其内部要塞入太多各种不同接口的设备(内存、摄像、声音)。以摄像头接口为例，不同的摄像头模组厂商也可能会使用不同的接口形式，这给手机厂商设计手机和选择器件带来了很大的难度。本文说明了一种通用的集成电路RF噪声测量技术。RF抗干扰能力测试将电路板置于可控制的RF信号电平下，RF电平代表电路工作时可能受到的干扰强度。从而产生了一个标准化、结构化的测试方法，使用这种方法能够得到在质量分析中可重复的测试结果。这样的测试结果有助于IC选型，从而获得能够抵抗RF噪声的电路。可以将被测器件(DUT)靠近正在工作的蜂窝电话，以测试其RF敏感度。为了得到一个的、具有可重复性的测试结果，需要采用一种固定的测量方法，在可重复的RF场内测试DUT。
