QCM-D 还是 SPR-输出的信息对比

QCM-D 还是 SPR

                                                                           ——输出的信息对比

       

      以耗散型石英晶体微天平技术（QCM-D）和表面等离子共振技术（SPR）为代表的时间分辨表面灵敏技术，相互之间经常被拿来比较。这些技术的确有很多共同点，但也存在一些重大差异。本综述在这里将 QSense 耗散型石英晶体微天平技术和表面等离子共振技术 SPR 可以获取的信息进行了对比。

       无需详细说明相应技术的工作原理，正如其他地方详细描述的那样，QCM(石英晶体微天平技术) 是一种声学技术，而 SPR 是一种光学技术。 简而言之，QCM 测量振荡石英晶体的共振频率变化 f，而 SPR 测量表面等离子体共振角 ϴ 的变化。 晶体振荡的共振频率对质量变化敏感，SPR 角对折射率变化敏感。 除了 f 和 ϴ 之外，QCM 和 SPR还可以捕获一些其他参数，从而获得更多的信息。

      下面我们举例说明 QSense（QCM 的升级版本）和 SPR 在信息输出方面的典型差异。

       如果数据和吸附层满足模型的要求和条件，则可以用 QSense 将质量计算或模拟出来。SPR 可以通过将角位移乘以比例常数来计算质量，该常数对于吸附物质是*的，并且必须独立校准 [参见参考文献 1 和其中的参考文献]。

       这两种方法都能够间接表征厚度变化。QSense 的厚度通过密度与质量相关联。SPR的响应与吸附物和溶液之间的折射率差异以及吸附层的光学厚度成正比。如果已知各自的折射率，则可以计算出其光学厚度。通常情况下，不是通过复杂的转换将其转变成光学质量（见上节），而是使用光学厚度作为吸附的结果。

       QSense 是一种声学技术，可以测量较厚的薄膜，而 SPR 是一种光学技术，在薄膜厚度方面有更大的限制。

        QSense 检测到的结合水也还可以增强信号，即使很小的构型变化，其中结合的溶剂的量也显著不同。

      耗散的变化与吸附层引起的剪切粘性损失有关，因此提供了有助于识别不同吸附体系之间的结构差异或同一类型分子在吸附过程中的结构变化的信息。 f 和 D 数据相结合，可以表征出构型/结构/取向等相关的薄膜特性和粘弹性信息。