甘孜稻城县仪器校准-器具计量机构
仪器检测服务有限公司是2012年由东莞世通出资1000万元成立。专门从事产品检测和仪器校准的第三方公正实验室。
业界频谱仪所支持的显示检波器类型比较多,常用的检波器包括:*值、*小值、自动峰值(AP, Auto Peak)、平均值(AVG, Average)及均方根值(RMS)检波器。为了便于说明,依然沿用上面的例子,假设每个扫频点包含20000个样点数据。
表1中给出了这五种显示检波器的含义,*值和*小值检波器比较容易理解,就是选取样点中幅度*值和*小值显示出来。自动峰值检波器是将*值和*小值都显示出来,表现形式是*值和*小值之间直连,也就是一个扫频点显示的是一条竖直的线。自动峰值检波器通常是频谱仪默认的设置,这也是为什么一打开频谱仪就看到“很厚”的底噪的原因!
无线电仪器校准实验室主要负责电学校准*工作;无线电仪器校准实验室是我校准中心*、标准器具齐全的实验室,多年经验的中高级计量工程师对电学*的计量规程、标准、工作程序有着深刻的理解和认识.而且也是高级工程师、工程师称职很多的实验科室,相关计量业务工作人员人数多的科室。并且该实验室配备了国内外*的计量标准仪器设备;拥有规格*全的四位半、五位半、八位半等福禄克数字多用表、多种标准电感、标准电阻、标准电容和标准高压装置、数字多用表校准仪、标准热电偶、电感电容测试仪、电力谐波分析仪、数据采集装置等计量标准仪器设备达三百多种...射频微波:
液位控制仪表系统指示值变化到*或*小。可以先检查检测仪表看是否正常。如指示正常,将液位控制改为手动遥控,看液位变化情况:
1.如液位可以稳定在一定的范围,则故障在液位控制系统;
2. 如稳不住液位,一般为工艺系统造成的故障,要从工艺方面查找原因。
差压式液位控制仪表指示和现场直读式指示仪表指示对不上。首先检查现场直读式指示仪表是否正常。
1. 如指示正常,检查差压式液位仪表的负压导压管封液是否有渗漏;若有渗漏,重新灌封液,调零点;无渗漏,可能是仪表的负迁移量不对了,重新调整迁移量使仪表指示正常。
液位控制仪表系统指示值变化波动频繁时,首先要分析液面控制对象的容量大小:
1.容量大一般是仪表故障造成;
2.容量小,首先要分析工艺操作情况是否有变化,如有变化很可能是工艺造成的波动频繁,如没有变化可能是仪表故障造成。?
式中,R为系统参考阻抗,Pi为第i个样点对应的功率值。选择RMS检波器时,计算得到的功率P为N个样点功率值的平均值。
下面考虑一个简单的场景:理想CW信号的频谱测试,没有任何噪声,那么使用上述任一种检波器得到的结果都是相同的。因为对于理想CW信号,由IQ数据计算得到幅值就是个常数。
但实际上,随机噪声无处不在,得到的IQ数据上也叠加了噪声,如果参与平均的样点数足够多,则随机噪声的平均值趋于零,使用AVG检波器得到的结果可以忽略随机噪声,可以准确测试CW信号的功率。而使用RMS检波器得到的结果则是信号和噪声的功率。
如果CW信号的SNR比较高,那么采用AVG和RMS检波器的测试结果相当;如果信号比较微弱,可以考虑采用AVG检波器以更好地抑制噪声。
如果要测试宽带信号的功率,比如测试数字调制信号的功率或者噪声功率谱密度等,务必要将显示检波器选择为RMS检波器!因为只有RMS检波器测得的结果才是宽带信号真实的平均功率!
显示检波器与频谱仪的迹线模式有什么区别?
初学者还比较容易混淆显示检波器和迹线模式,下面简单介绍一下。
频谱仪常用的迹线模式包括Clear/Write、Max. Hold、Min. Hold、Average等,它们与上面介绍的*值、*小值及平均值检波器是完全不同的。迹线模式是对多次扫频结果进行处理的,而显示检波器是对同一个频点所包含的样点数进行处理,从数据处理流程看,使用显示检波器在前,而迹线模式生效在后。
比如Max. Hold,就是将多次扫频曲线的*值显示出来并固化在屏幕上,对于同一个频点,当出现更大的幅值时,才会进行刷新。当测试跳频信号的频谱时,结果发现谱线的位置一直在跳动,此时便可以打开Max. Hold迹线模式,只要观测的时间够长,那么就可以观察到所有跳频点的频谱。
类似地,Average迹线模式是将多次扫频测试结果进行线性或者对数平均后显示出来。测试微弱的CW信号时,可以使用Average迹线模式,从而读取稳定的测试结果。
如何选择显示检波器?
针对这个问题,下面给出了五种测试场景。
I. CW信号测试
比如单音/多音信号测试、杂散、谐波及交调失真测试等,只要具有较强的SNR,采用默认的自动峰值检波器即可。对于杂散和谐波测试,由于信号较弱,为了得到更好的结果,可以考虑采用AVG或者RMS检波器,以平均噪声,提高测试精度。
II. 宽带信号测试
典型的宽带信号,比如数字调制信号,或者宽带噪声信号,如果要测试这类信号的功率或者功率谱密度,只有选择RMS检波器,测得的结果才能反映真实的功率特性。为了得到平滑的频谱曲线,建议将扫描时间设置长一些,这样会有更多的样点数参与平均,平均值会越来越稳定。
得到平滑的频谱曲线后,还可以进一步完成ACLR / ACPR和占用带宽OBW的测试,RMS检波器可以保证得到稳定、的测试结果!
值得一提的是,采用RMS检波器后,VBW必须要大于RBW,否则测试结果会偏低!默认情况下,VBW和RBW是联动设置的,可以满足这一点。
III. 射频脉冲信号测试
如果只是要得到射频脉冲信号的包络谱显示或者线状谱显示,则使用默认的自动峰值检波器即可。如果要使用带宽积分法测试信号的平均功率,则依然要求选择RMS检波器。
IV. 谐波失真测试
对于基波信号功率测试,选择自动峰值检波器即可。对于谐波信号功率的测试,有两种方法可以选择:(1) 单独测试每个谐波的功率,换算成线性功率后再相加求和,*取对数,即为谐波功率;(2) 直接使用带宽积分法测试谐波功率,需要设置为RMS检波器。
V. 相位噪声测试
基于频谱仪的相位噪声测试,无论是手动测试,还是使用软件自动测试,都属于直接法测试。首先确定载波功率,然后再确定一定偏移频率处的功率谱密度,二者的比值即为相位噪声。
如果手动测试相位噪声,需要考虑的因素比较多,后面会专门展开细述。对于显示检波器的选择,由于相位噪声也属于宽带噪声,因此也要求使用RMS检波器。
小结
文中着重介绍了频谱仪显示检波器的相关内容,其实显示检波器的选择并不难,测试场景可能多种多样,但是信号的形式就那么几种,只要掌握了每一种显示检波器的含义,再结合信号类型及需要测试的参数选择合适的检波器即可。
曾经听业内人士讲,在RF/μW领域有两个难以理解的“噪声”,一个是噪声系数,另一个是相位噪声,可能大部分人都有同感吧。的确,作为一个无处不在的随机参数,噪声确实给不少工程师带来一些困惑。作者从事测试工作多年,对于这些噪声略知一二,整理下来分享给大家,希望对大家有所帮助。
本文是噪声系数系列文章*篇,主要介绍噪声系数的定义及其对系统带来的影响。之后会陆陆续续给大家介绍噪声系数的三种测试方法,包括增益法、Y因子法,以及基于矢量网络分析仪的噪声系数测试方法。
1、噪声是如何产生的?包括哪些来源?
根据噪声产生的机理,大致可以分为五大类:热噪声(Thermal Noise),散粒噪声(Shot Noise),闪烁噪声(Flicker Noise),等离子体噪声(Plasma Noise),量子噪声(Quantum Noise)。
热噪声是*基本的一种噪声,就像冬日里北方的霾一样,可以说是无处不在的。热噪声又称为Johanson或Nyquist噪声,是由电子的热运动产生的。在*零度(0 K)以上,就会存在自由电子的热运动。因此,几乎所有的器件/设备,都会产生热噪声。
热噪声的功率谱密度不随频率变化,称为白噪声,又因服从Gauss概率密度分布,所以又称为高斯白噪声。
散粒噪声是由电子管或半导体固态设备中载流子的随机波动产生的,比如PN结二极管,当级间存在电压差时,就会发生电子和空穴的移动,此过程中就会产生散粒噪声。其功率谱密度也不随频率变化,也是一种白噪声。散粒噪声是半导体器件所特有的,无源器件(比如衰减器)是不产生散粒噪声的。
闪烁噪声产生于真空管(阴极氧化涂层)或半导体(半导体晶体表面缺陷)固态设备。噪声功率主要集中在低频段,其功率谱密度与频率成反比,所以又称为1/f 噪声。高于一定频率时,其噪声功率谱非常微弱,但是平坦的。因此,有时也称为pink noise.
等离子体噪声是因电离化气体中电荷的随机运动产生,如电离层中或电火花接触时,就会产生等离子体噪声。而量子噪声是因载流子或光子的量子化特性所产生。对于电子器件而言,相对其它三种噪声,这两种噪声是可以忽略的。
限于作者的理论水平以及本系列文章的侧重点,文中仅仅对不同噪声作简要概括结,实际上每一种噪声的理论都比较复杂,所以如果要了解关于噪声的更多知识,可以参考相关书籍和文章。
小结:RF/μW器件中,无源器件产生的噪声基本是热噪声,比如线缆、转接头、衰减器、滤波器等;半导体器件,比如放大器、混频器等,除产生热噪声外,还会产生散粒噪声、闪烁噪声等。
2、噪声系数是如何定义的?
(1) 为了便于讨论,首先以电阻为例,讨论其输出的噪声功率。
将一个电阻置于温度为T (开尔文温度)的环境中,电阻中的自由电子随机运动,动能与温度T成正比。电子的随机运动会产生小的随机电压波动,此时电阻相当于一个噪声源,输出波形如图1所示,该噪声在足够长时间内的算术平均值为0,但RMS平均值值不为零。
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惠州世通:广东省惠州市惠城区江北云山西路2号帝景国际商务中心B座2007号
常州世通:江苏省常州市武进区万达中心29楼15号
成都世通:四川省成都市龙泉驿区简华侨东路招商·依云上城二期
佛山世通:佛山市顺德大良清晖路新基孵化园四层D16室
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