OURSTEX 160 型在 2006 年 3 月由东京都政府实施的《环境安全条例》中被选为用于土壤污染调查（重金属等）的简单快速分析技术（简单分析方法）。
■ 用于工厂现场的土壤分析... 可以进行非破坏性和快速的成分分析。 小巧轻便，可进行现场分析。 提高了针对中等和重金属元素的灵敏度。 实用程序仅为 AC100V-5A。 设备内部为受控区域。
能量色散 X 射线荧光分析仪用 X 射线管发出的初级 X 射线照射样品，并用半导体探测器测量产生的 X 射线荧光，因此无论样品形状如何，它都是非破坏性和元素定性的。样品。・ 进行定量分析。
半导体探测器采用电子冷却硅漂移探测器（SDD），无需液氮冷却，可结合数字计数电路（DSP）测量高分辨率和高计数率。
为了提高分析性能，准备了能使半导体探测器的能量分辨率和计数灵敏度*化的激发光学系统的条件。
| 测量原理 | 能量色散X射线荧光分析法 |
| 测量对象 | 用于土壤分析的环境样品（固体/粉末/液体） |
| 测量元件 | S、Cr、As、Se、Cd、Hg、Pb ( 13 AI- 92 U) |
| 样品形状 | * 78mmφ x 55mmH |
| 样板间气氛 | 气氛 |
| X射线额定输出 | 48kV，2mA 高达 50W |
| 探测器 | 电子冷却硅漂移探测器 |
| 计数电路 | 数字处理方式 |
| 使用条款 |
温度：5 至 27°C 湿度：20 至 75% 电源：AC100V，5A (50 / 60Hz) 接地：D 类接地 |
| 其他（选项） | 喷墨彩色打印机、鼠标 |
* 对于OURSTEX160的引进，需要提前通知劳动基准署。
