TOPCON拓普康光谱仪SR-LEDW-5N

发布时间:2022-03-31

光谱仪 SR-LEDW-5N

宽动态范围光谱辐射计。

SR-LEDW 光谱波长宽度 5nm 型号。

产品概述

本产品是一种光谱辐射计,具有前所未有的宽动态范围,可测量从 0.0005cd/m2 到 5,000,000cd/m2 的高亮度级 LED,也称为影响黑色图像表示的兆对比度。

作为我们的 SR 系列*机器,新安装的 FIX 模式可实现测量条件的自动化,并缩短同一样品的测量时间。

近年来,市场迅速扩大,LED背光模块的设计与开发应用不仅可用于生产过程中的高速、高精度管理。

在 380nm 至 780nm 的测量波长范围内,它支持 5nm 或更少的光谱波长宽度。


特点

■ 宽动态范围(0.0005~5,000,000cd/m2)对应

· 搭载FIX模式 ,大大缩短了生产线的连续测量时间 (与本公司以往产品相比1/2)

· 提高均等灵敏度 , 可降低灵敏度不均 , 简易地进行LED芯片测量 。

■ 通过安装照度适配器(另售),也可以进行照度(lx)测量。

■ 对应于5nm以下的光谱波长宽度(半值宽度)


主要规格

受光元件电子冷却线性阵列传感器 

分散元件衍射光栅 

光学物镜 : f = 82mm F2.5, 目镜 : 观测视野 5° 

测量角度2/1/0.2/0.1° • 电动开关 

测量距离350mm 至 ∞(与物镜支架*的距离) 

光谱波长宽度5nm(半宽) 

波长精度±0.3nm *Hg 光泽线 

测量波长范围380~780nm 

波长分辨率1nm 

测量模式自动/手动(存储时间/频率)、外部同步信号输入、FIX 

测量内容光谱辐射 : W. sr-1, m-2, nm-1 

测量功能辐射 Le : W.sr-1m-2, 亮度 Lv : cd m-2

CIE1931 色度坐标 xy, CIE1976 色度坐标 u'v'

三刺激值 XYZ, 相关色温 (Tc;k), 偏差 (duv), CIE 颜色系统 2°/10° 

测量亮度范围 (+1)(*2) 2°:0.0005~1,500,000 cd/m2

1°:0.0015~4,500,000 cd/m2

0.2°:0.0375~5,000,000 cd/m2

0.1°: 0.15~2,000,000 cd/m2 

精度:亮度 (+1)± 2% 以内 

精度:色度 (x,y) (+1)±0.002 

可重复性:亮度 (+3)1.5% : 0.0005 - 0.005 cd/m2

0.4% : 0.005 - 0.1 cd/m2

0.3% : 0.1 cd/m2 或更高 

可重复性 :色度 (+4)0.005 : 0.0005 - 0.005 cd/m2

0.0015 : 0.005 - 0.1 cd/m2

0.0005 : 0.1 cd/m2 或更高 

极化特性亮度 1% 或更少 光谱辐射 2% 或更少 (400 至 780nm) 

测量时间 (+5)正常模式:约 1 至 248 秒,高速度模式:约 1 至 17 秒 

接口RS-232C、 USB 2.0 

电源交流适配器 AC100 至 240V (50/60Hz) 

功耗约 36W 

使用条款温度:5~30°C,湿度:80%RH以下,无冷凝 

外形尺寸(不包括突起)150×406×239mm 

质量约 5.5 千克 

*1 对于标准光源 A

,*2 NORMAL SPEED 模式测量时的测量范围

*3 测量角 2°,10 次连续测量 2°,NORMAL SPEED 模式

*4 测量角度 2°,10 次连续测量(*值-*小值),NORMAL SPEED 模式

*5 与PC通信时间除外



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