天瑞X荧光贵金属检测仪 EDX 3000 PLUS、EDX2000H、EDX3000、Smart100Plus销售。产品说明、技术参数及配置
天瑞*X荧光贵金属检测仪 EDX 3000 PLUS 在测量金、银、铂、钯等贵金属含量上功能独到。采用25mm2大面积铍窗探测器，可准确无误地分析出黄金，铂金和K金饰品中金、银、铂、钯、铜、锌、镍的含量，测试结果完全符合国标GB/T 18043-2000要求。
X荧光合金分析仪EDX3000PLUS优惠
黄金贵重，仪器贵精。EDX 3000 PLUS闪耀的亮点在于高准确度、高分辨率、更清晰的摄像头、一键式智能操作，一切让贵金属检测如此简单！
性能优势
高分辨率：
采用SDD硅漂移探测器，分辨率为139±5ev ，而常规的Si-PIN探测器，分辨率为160±5eV， 能更好的检测铂金中铱和金的含量。
高准确度，性能优：
使用25mm2大面积铍窗探测器，大大提高样品特征X荧光的接收能力。配合数字多道分析器技术，提高分析速度，体提高系统处理能力，计数率大可达8万，比Si-PIN 6mm2探头提高了5-10倍,精度提高了2-4倍。
清晰摄像头，准确定位：
采用*工业级相机，样品图像更加清晰，轻松实现*定位。
小准直器，轻松实现精小部位测试：
提供多种准直器，直径小达0.2mm，可轻松实现精小部位的准确测试，同时可根据测试需求电动切换准直器，使测量更加轻松更加准确。
一键式智能式操作，省去选曲线烦恼：
FP法的完整使用，只需一键操作即可智能化自动匹配曲线，操作一步到位。
X荧光合金分析仪EDX3000PLUS优惠
技术参数
元素分析范围从硫（S）到铀（U）
分析检出限可达ppm级
分析含量一般为ppm到99.99％
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
温度适应范围为15℃至30℃
电源：交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率：139±5eV
仪器配置
移动样品平台
SDD探测器
数字多道分析系统
高低压电源
大功率X光管
计算机及喷墨打印机
外观尺寸： 550×416×333mm
样品腔尺寸：460×298×98mm
质量：45Kg
应用领域
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测
随着金价飞涨，假冒金条成为贵金属行业的难题。现代假货的外观和感觉就像真品一样，如果您没有合适的工具，识别假金条是一项挑战。第1步：用X射线荧光(XRF)测金仪测试金条的外部。XRF测金仪 将通过直接测量金和微量元素（包括银、铜、镍、铂、钯、铱和任何其他通常与金形成合金的元素）来确定金条的纯度。我们的分析仪易于使用的软件可以显示黄金百分比、克拉或成色。如果可能存在镀金，板警报功能会通知用户。XRF荧光光谱仪的原理主要是原子内产生变化致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子（如K 层）在足够能量的X 射线照射下脱离原子的束缚，释放出来，电子的逐放会导致该电子壳层出现相应的电子空位。这时处于高能量电子壳层的电子（如：L 层）会跃迁到该低能量电子壳层来填补相应的电子空位。由于不同电子壳层之间存在着能量差距，这些能量上的差以二次X 射线的形式释放出来，不同的元素释放出来的二次X 射线具有特定的能量特性。这一个过程就是我们说的X射线荧光光谱仪(XRF测金仪)
第2步：
使用我们的密度仪仪器测试金条的整个密度，以帮助确保它始终是“真实的”。高品质的赝品可能外面有真金，但里面可能装满了更便宜的金属。密度仪可以帮您轻松鉴别内部不是纯金的假金或者假珠宝。
密度法原理是根据阿基米德原理测定样品在空气中的质量除以其体积得到被测样品的密度，再根据首饰中可能含有杂质元素的密度和黄金的密度计算出首饰中金的纯度。
密度法的优点为分析速度快，样品无损，仪器及测定成本低。单纯的密度法仅适用于组分简单的首饰; 对于组分复杂的首饰，密度法有较大的误差，需与其他方法联用，而*常见的联用方法为 X 荧光光谱法。密度法有一定的限性，要求被测样品表面非常光滑，无飞毛边刺和裂纹狭缝。若样品内部存在空心、气泡等情形，则密度法更加不适用; 而这类问题在黄金熔炼、浇铸过程中是较为普遍的。另外，对于表面镀层样品以及掺铱、钨、铅的样品，由于金属铱、钨、
铅的密度与金非常接近或更大，这类物质在故意作假的黄金首饰特别是在金条中容易出现，它们不是均匀与基体材料混合，即使与 X 射线荧光法联用也很难识别，因此该方法黄金纯度检测有很大的误差和风险
