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力学类仪器校准:砝码、电子称、电子天平、压力表、扭力批、测力仪、推拉力计、拉压力试验机、摆锤式冲击试验机、布洛维氏硬度计、振动试验台、胶带剥离试验机、纸板环压试验机、冲击试验机、破裂强度试验机、数字式渗水性测定仪、拉链往复试验机等。
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压力传感器零点漂移
造成压力传感器的零点漂移的主要有以下几个原因：
1.应变片胶层有气泡或者有杂质
2.应变片本身性能不稳定
3.电路中有虚焊点
4.弹性体的应力释放不完全；此外还和磁场,频率,温度等很多有关系。电漂或一些漂移都会存在，但我们可以通过一些方式缩小其范围或修正。
零点热漂移是影响压力传感器性能的重要指标，受到广泛重视。上认为零点热漂移仅取决于力敏电阻的不等性及其温度非线性，其实零点热漂移还与力敏电阻的反向漏电有关。在这点上，多晶硅可以吸除衬底中的重金属杂质，从而减小力敏电阻的反向漏电、改善零点热漂移，提高传感器的性能。
在EMI测试过程中确定汽车电子控制单元（ECU）是否仍旧正常工作的方法是让其通过ECU的输出端口如CAN总线输出它的工作状态。其它的ECU输出也包括模拟传感器输出，以及驱动执行器的脉冲宽度调制输出。场的强度及考虑ISO/IEC61-4-21中描述的辐射RF抗干扰测试中使用的场强和频率类型是一个典型的示例，它使用了一个包含机械模式调谐器的混响室，当在一个给定的测试频率下足够多的调谐器位置被获得时，混响室可用空间产生一个测试频率范围在.4~3GHz、场强高达2V/m（CM和AM）以及6V/m（雷达脉冲）的均匀场。
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缩小电漂移和修正电漂移还有哪些方式呢，零点电漂移除了影响压力传感器的测量精度和降低灵敏度之外，还有哪些重要影响呢。
利用零点电漂移可以消除压力传感器的热零点漂移，所谓零点漂移，是指当放大器的输入端短路时，在输入端有不规律的、变化缓慢的电压产生的现象。产生零点漂移的主要原因是温度的变化对晶体管参数的影响以及电源电压的波动等，在多数放大器中，前级的零点漂移影响，级数越多和放大倍数越大，则零点漂移越严重。漂移的大小主要在于应变材料的选用，材料的结构或是组成决定其稳定性或是热敏性。
有源通常具有较低的触点电容(通常为几个pF)和极高的阻抗，因此有源对任何被测节点都呈现极小的负载。接地在进行高速测量时，可能犯的错误是使用接地夹，造成示波器问题。使用接地夹相当于在接地路径中加入了一个串联电感。这个串联电感和电容共同作用，就会引入振荡和过冲。的接地连接方法是使用内部的接地网，只是您得拆开。不过，这不难做到。首先，从探针上松开塑料外皮，把它从上褪下。
往往这要求设计人员使用外部硬件或是通过位拆裂在固件中实现接口。位拆裂使用固件触发IO端口，一般可用于实现串行接口。如果要监测端口以串行数据的时候，也可以使用这种方法。无论是使用外部硬件还是位拆裂来实现接口，都会产生额外的设计成本。虽然增加外部硬件带来的成本是明显的，但使用软件实现串行接口可能也会要求使用速度更快因而也更加昂贵的CPU。大多数通用微控制器都支持SPUART和I2C接口，但仍然有很多时候，某些内部用户可编程逻辑会非常有用。
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材料选好后的加工制成也很重要，工艺不同，会生产出不同效果的应变值，关键也在于通过一些老化等调节后，电桥值的稳定或程规律的变化。
漂移的调节手段很多，大都根据厂家的条件或生产需求所决定，大多数厂家对零点漂移都控制得很好。温度调节可通过内部温度电阻和制热零敏度电阻补偿、老化等。
对于采用电路转换的变压器中，电路部份的漂移可用通过选用好的元器件和设计更合适的电路来补偿。应变材料要选灵敏系数高、温度变化小的材料。stwg139wei
“然而，使用FLIRA65sc型号，所有问题都迎刃而解。”整个AOS--Tx8系统仅重11.6kg，尺寸为33x4x32mm。该系统提供手动摄像机操作和飞行管理系统的连接，还提供鼠标、屏幕、键盘（全部通过USB）和电源。FLIR热像仪之间的重叠度为12％或3°。四台FLIR红外热像仪必须进行同步以获取有用的数据，并避免图像重叠时测量值的温度变化。由于技术原因，非制冷型红外热像仪的温度测量差异为+/-5％。
国外专注于工业研发与生产的公司主要有瑞典的ABB工业公司，德国的KUKA公司与日本的FANUC公司等。这些公司产品的关节驱动传动机构其内部RV减速器主要用的是日本帝人生产的RV减速器。因为工业驱动机构要求其传动过程中精度高且回程间隙小即回差小，刚度较大和输出转矩高，减速比大，常用的传动装置有：RV减速器，谐波减速器，摆线针轮行星减速器和某些精度高的行星减速器与其它的小侧隙精密控制减速器。
