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电学类仪器校准:数字多用表、高压表、功率表、多功能校准仪、交直流电源、绝缘电阻仪、泄漏电流仪、耐电压仪、线材测试机、晶体管图示仪、LCR电桥、插头线综合测试仪、安规综合测试仪、表面电阻仪、防静电仪、电子负载仪、数据采集器、变压器电量测试仪、LED光谱分析系统（积分球）、元件自动分析仪、电池测试系统、带电绕组温升测试仪等。
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光敏电阻是一种特殊的电阻，简称光电阻，又名光导管。常用的制作材料为硫化镉，另外还有硒、硫化铝、硫化铅和硫化铋等材料。这些制作材料具有在特定波长的光照射下，其阻值迅速减小的特性。这是由于光照产生的载流子都参与导电，在外加电场的作用下作漂移运动，电子奔向电源的正极，空穴奔向电源的负极，从而使光敏电阻器的阻值迅速下降。光敏电阻器是利用半导体的光电效应制成的一种电阻值随入射光的强弱而改变的电阻器；入射光强，电阻减小，入射光弱，电阻增大。光敏电阻器一般用于光的测量、光的控制和光电转换（将光的变化转换为电的变化）。常用的光敏电阻器硫化镉光敏电阻器，它是由半导体材料制成的。
TEMCELL一般只找方值，使测试结果对手机摆放的位置比较敏感。另外，还有一种测试工具较箱，有的设计公司用来对手机天线进行有源测试，这种方法很不可行。一方面由于测试距离太近，另一方面由于没有足够的吸波材料，外部干扰对天线的测试影响比较大，这样导致测试结果对位置比较敏感，稍微改变一下位置测试结果就有比较大的改变，因此这种测试方法对手机天线的性能没有的参考意义。用耦合测试板测试天线性能在生产过程中为了保证产品的生产品质，往往要进行天线的耦合测试。
光敏电阻器的阻值随入射光线（可见光）的强弱变化而变化，在黑暗条件下，它的阻值（暗阻）可达1~10M欧,在强光条件（100LX）下，它阻值（亮阻）仅有几百至数千欧姆。光敏电阻器对光的敏感性（即光谱特性）与人眼对可见光（0.4~0.76）μm的响应很接近，只要人眼可感受的光，都会引起它的阻值变化。设计光控电路时，都用白炽灯泡（小电珠）光线或自然光线作控制光源，使设计大为简化。
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电机传统的测试方法测功机是电机的主要测量设备，初测功机只是针对电机的输入电压、电流、输出转速、扭矩进行测量，计算出电机的输入输出功率和效率。但随着电机行业的飞速发展，电机测试项目越来越多，传统的测功机已无法满足测试需求。为传统的测功机。传统的测功机传统的测功机所存在的问题如下所述加载、测试响应慢，只能满足稳态测试需要，无法实现瞬态参数测量;仅支持三相电信号测量，无法实现对电机及电机驱动器的系统性联调测试;精度与带宽不足，无法满足电机变频控制PWM信号的测试需要;电参数测试方面且不具备分析功能，无法对谐波、不平衡度等参数进行测量。
光敏电阻的工作原理是基于内光电效应。在半导体光敏材料两端装上电极引线，将其封装在带有透明窗的管壳里就构成光敏电阻，为了增加灵敏度，两电极常做成梳状。用于制造光敏电阻的材料主要是金属的硫化物、硒化物和碲化物等半导体。通常采用涂敷、喷涂、烧结等方法在绝缘衬底上制作很薄的光敏电阻体及梳状欧姆电极，接出引线，封装在具有透光镜的密封壳体内，以免受潮影响其灵敏度。
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在黑暗环境里，它的电阻值很高，当受到光照时，只要光子能量大于半导体材料的禁带宽度，则价带中的电子吸收一个光子的能量后可跃迁到导带，并在价带中产生一个带正电荷的空穴，这种由光照产生的电子—空穴对了半导体材料中载流子的数目，使其电阻率变小，从而造成光敏电阻阻值下降。光照愈强，阻值愈低。入射光消失后，由光子激发产生的电子—空穴对将复合，光敏电阻的阻值也就恢复原值。在光敏电阻两端的金属电极加上电压，其中便有电流通过，受到波长的光线照射时，电流就会随光强的而变大，从而实现光电转换。光敏电阻没有极性，纯粹是一个电阻器件，使用时既可加直流电压，也加交流电压。半导体的导电能力取决于半导体导带内载流子数目的。
我们可以对台式电源电压和恒流限制来进行配置。电源将会监测电压和电流情况。对于测量结果随时间的变化，我们可以手动收集，也可以用计算机来收集。简单的程序或应用软件(如BenchVue)可以帮助检索电源，以便搜集数据并绘制图形。某些新款台式电源配有图形用户界面，还可直接使用USB存储器进行记录。图2中的示例是级电容器在未达到2.7V的电压极限之前，以5A的速率进行充电的情况。图2：E36312A正在捕获一个100F级电容器的充电情况当电容器达到2.7V以后，吸收的电流将会越来越少。 stwg139wei
