B0.5SL粗晶探头

美国GE粗晶探头

纵波探头能适用于检测粗晶材料、原始的铸造材料，奥氏体和奥氏体焊缝等。

对于普通探头，由于粗晶粒结构所产生的噪声幅度与小缺陷的回波幅度基本一致，这样容易造成缺陷漏检。所以，检测粗晶材料时要选用特殊探头。有些探头可以检测部分奥氏体焊缝，并得到一些满意的结果，这主要取决于被检测材料的声学特性。我们一直致力于解决这个问题，我们选择不同焦点的单晶探头和TR探头进行实验，得到检测粗晶材料的*探头参数。

与此同时，我们得到了奥氏体材料制造商的大力支持。根据我们的经验和实验，我们针对各种粗晶粒材料设计了相应的探头，这些探头都取得了*的效果。此外，这些测试结果还获得了*信噪比，并且所有的粗晶探头都通过纵波探伤。

具有可更换保护膜的直探头

频率（MHZ）

接触面（mm）

尺寸Φ(mm)

K 0.5 S

0.5

40

34

高阻尼

K 1 S

1

40

34

高灵敏度

K 1 SM

1

33

28

非常好的信噪比

B 0.5 SL

0.5

40

34

非常好的灵敏度

B 1 SL

1

40

34

高阻尼，高信噪比

K 1 SC

1

30

24

复合材料压电晶片

K 1 SC

2

30

24

*的灵敏度和信噪比

纵波斜探头—单晶系列，复合材料压电晶片

频率（MHZ）

接触面（mm）

角度（  °）

深度范围

要求的探头线

WRY 45

WRY 60

WRY 70

WSY 45-2

WSY 60-2

WSY 70-2

WSY 45-4

WSY 60-4

WSY 70-4

2

2

2

2

2

2

4

4

4

48 x 25

48 x 25

48 x 25

28 x 13

28 x 13

28 x 13

28 x 13

28 x 13

28 x 13

45

60

70

45

60

70

45

60

70

5 - 100

5 - 80

5 - 55

6 - 25

4 - 20

3 - 15

3 - 30

3 - 20

2 - 15

}MPKL 2

}MPKL 2

}MPKL 2

双晶系列纵波斜探头—复合材料压电晶片

频率（MHZ）

接触面（mm）

角度（  °）

深度范围

VRY 45

VRY 60

VRY 70

VSY 45

VSY 60

VSY 70

1,8

1,8

1,8

4

44

53 x 29

53 x 29

53 x 29

30 x 15

30 x 15

30 x 15

45

60

70

45

60

70

15 - 70

10 - 60

5 - 45

2 - 30

1.5 - 20

1.5 - 20

}SEKL 2

}SEKN 2