ABB、GE发那科、AB、FOXBORO、Honeywell，力士乐、KUKA、SEW、施耐德等，三菱、安川、本特利，英维思，伍德沃德，福克斯波罗、西屋、瑞恩、施耐德莫迪康、ABB、AB、西门子、摩托罗拉、安川、博世力士乐，ACSO，力士乐等各大的DCS系统配件，机器人系统配件，大型伺服系统备件。（*停产配件原装进口原厂*，提供报关单，提供质保一年。)
功能测试码有时需要自行编写，而不是由设计人员通过逻辑仿真提供，此时，结合缩短测试时间、降低测试成本的因素，需要巧妙地考虑功能测试方法，以达到既能全面覆盖电路各项功能，又能有效减少测试时间的目的。这依赖于自身对电路功能的理解程度及实践经验。
比如某LCD控制驱动电路，功能测试时需要通过电路的可读写双向数据口完成指令与数据的传输后，与其他逻辑单元配合再将写入的数据显示在LCD输出端口上。对其内部的RAM单元测试就完全可以通过双向口进行读写验证，无需再送至LCD驱动输出端上检验，而双向口读写速度可远快于显示输出部分，因此RAM这样测试时，可适当加快读写时钟频率，以降低测试时间。NUMATICS 554SS500K000030 DOUBLE DIRECT SOLENOID, NNB SE
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FANUC A03B-0801-C425 / IA16E INPUT MODULE, REPAIRED
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TELEMECANIQUE LP2D0901BD REVERSING CONTACTOR, NIB
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