热工类仪器校准:温度计、温湿度计、烤箱、恒温恒湿机、盐雾试验机、耐寒试验机、耐黄变试验机、熔融指数试验机、电线加热变形试验机、温度巡检仪、炉温测试仪、多点采集器、恒温槽(水槽、油槽、水浴锅)、辐射温度计等。
理化类仪器校准:可调移液器、常用玻璃量器（量筒、烧杯、容量瓶等）、pH计、密度计、波美计、白度计、声级计、照度计、光泽度计、旋转粘度计、紫外分光光度计、原子吸收分光光度计、色差仪、电位滴定仪、X射线荧光光谱仪（ROHS检测仪）、电导率仪、气相色谱仪、液相色谱仪、频闪仪、透光率仪、木材水分测湿仪、标准光源箱等。
肇庆四会温度传感器校准厂家图(1)
经典光谱仪器都是狭缝光谱仪器。调制光谱仪是非空间分光的，它采用圆孔进光根据色散组件的分光原理,光谱仪器可分为:
棱镜光谱仪，衍射光栅光谱仪和干涉光谱仪.光学多道OMA(Optical Multi-channel Analyzer)是近十几年出现的采用光子探测器(CCD)和计算机控制的*光谱分析仪器,它集信息采集，处理，存储诸功能于一体。
由于OMA不再使用感光乳胶,避免和省去了暗室处理以及之后的一系列繁琐处理，测量工作，使传统的光谱技术发生了根本的改变,大大改善了工作条件，提高了工作效率：
使用OMA分析光谱，测盆准确迅速，方便，且灵敏度高，响应时间快，光谱分辨率高，测量结果可立即从显示屏上读出或由打印机，绘图仪输出。
它己被广泛使用于几乎所有的光谱测量，分析及研究工作中,特别适应于对微弱信号，瞬变信号的检测。
实际传感器中线圈与输出的接线不会变，只是通过铁芯移动来改变电感，所以R1和R2固定不变。输出电压在上下两个线圈并联电容C1和C2后，分别形成了谐振回路I和回路II。如果铁芯在下方时：回路II谐振，回路I失谐。当铁芯在上方时：回路I谐振，回路II失谐。由于谐振电路在谐振时的阻抗会远大于失谐时的阻抗。可以定性地得出，铁芯在下方时Uout的幅值会比没有电容小，在上方时会比没有电容时大，所以灵敏度会增大。
肇庆四会温度传感器校准厂家图(2)
发射光谱分析的过程
光谱分析仪的分析原理是将光源辐射出的待测元素的特征光谱通过样品的蒸汽中待测元素的基态原子所吸收，由发射光谱被减弱的程度，进而求得样品中待测元素的含量。
1．把试样在能量的作用下蒸发、原子化(转变成气态原子)，并使气态原子的外层电子激发至高能态。当从较高的能级跃迁到较低的能级时；
当低频时，电容C由于阻抗Z比较大，有用信号可以顺利通过；当高频时，电容C由于阻抗Z已经很小了，相当于把高频噪声短路到GND上去了。电容滤波在何时会失效整改中常常会使用电容这种元器件进行滤波，往往有“大电容滤低频，小电容滤高频”的说法。以常见的表贴式MLCC陶瓷电容为例，进行等效模型如下：容值10nF，封装0603的X7R陶瓷的模型参数如下：由于等效模型中既有电容C，也有电感L，组成了二阶系统，就存在不稳定性。
原子将释放出多余的能量而发射出特征谱线。这一过程称为蒸发、原子化和激发，需借助于激发光源来实现。
2．把原子所产生的辐射进行色散分光，按波长顺序记录在感光板上，就可呈现出有规则的光谱线条，即光谱图。系借助于摄谱仪器的分光和检测装置来实现。
肇庆四会温度传感器校准厂家图(3)
3．根据所得光谱图进行定性鉴定或定量分析。由于不同元素的原子结构不同，当被激发后发射光谱线的波长不尽相同；
即每种元素都有其特征的波长，故根据这些元素的特征光谱就可以准确无误的鉴别元素的存在(定性分析)；
仪器的校准：送至认可之校验单位校验，提供检验报告书，并可追溯溯源。内校：使用可追溯经校验合格的标件，作为厂内仪器的内校依据，由厂内合格校验人员执行校验游校：须进行外校仪器/设备由于体积态大或灵敏度很高不方便搬动，第三方检测机构人员下厂进行校验。
如果套管内部存在缺陷，也可能导致套管异常发热。在这种情况下，发生故障套管的整体温度一般较其他正常的两相高（如下图红外热像仪应用在套管上）。如果套管内部或外部接头存在接触不良，或接点被氧化腐蚀，也可能导致套管接触点温度异常。在这种情况下，发生故障套管接触点就会表现出触点的温度明显高于其他正常的点或线路或套管。变压器套管热缺陷的红外热像仪应用检测依据根据DL/T664-20089.1电流致热型设备的判断：套管将军帽与外部接线板或内部导电杆接触不良是电流致热故障，判断依据如下：套管内部存在缺陷的情况比较复杂：有可能是电压致热故障所引起的，也有可能是套管机械损伤造成的。
CAN总线迅猛发展的，有许多厂家都推出自己的CAN收发器，都是号称和客户所用的PINtoPIN兼容，价格更加优惠。而实际这些收发器的设计与制造工艺决定了还是有很大区别的，不同行业的选型指标都不能照搬。10年前，国内的CAN收发器主流还是NXP（当年叫飞利浦）的PCA82C250，后来升级为PCA82C251，增强了管脚耐压能力与热关断功能，几乎所有CAN节点都使用PCA82C250/251。但随着汽车电子迅猛发展，以及半导体技术更新。
