焦作温县计量仪表检测+校正+外校--CNAS机构
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雷达测试仪是通过微波来测量运动物体的速度，它基于多普勒原理，既当微波照射到运动的物体上时，会产生一个与运动物体速度成比率的一个变化，其变化大小正比于物体运动的速度。如当目标离雷达天线越近时，反射信号频率将高于发射机频率，反之，亦然。雷达枪就是根据这一原理研制的。
雷达发射的微波以一个扇型的方式出去（S1），在照射区域内的目标会对微波形成一个反射（S2），其中依据实际测量的要求，雷达又分为两种工作模式：一种是静态工作模式，一种是动态工作模式。所谓静态：即雷达静止不动（不在运动的巡逻车内），测迎面来的汽车或同向远离的汽车。所谓动态：既雷达处于运动状态（一般在运动的巡逻车内），测迎面来的汽车或同向远离的汽车，在动态情况下，测试一般又分为反向测量和同向测量，反向测量：测试的目标和巡逻车的运动方向相反，同向测量：测试的目标和巡逻车的运动方向相同。选用不同的测试状态，雷达使用不同的运算规则。雷达本身不易判别目标的运动方向。。
大气衰减的影响被测电气设备表面红外辐射能量，经大气传输到红外检测仪器，这就会受到大气组合中的水蒸汽、化碳、一氧化碳等气体分子吸收衰减和空气中悬浮微粒散射衰减的影响。设备辐射能量传输的衰减随着检测仪器到被测设备间的距离，会降低被测设备辐射的透过率，所以其衰减是随距离的增大而增加。降低被检设备故障部位与正常部位的辐射对比度，也会因为红外仪器接收到的目标能量减少，使得仪器显示出来的温度低于被测故障点的实际温度值，从而造成漏检或误诊断，尤其对于检测温升较低的设备故障时。
在轧钢生产中，在探伤线与修磨线部位，安装测径仪可以实时监测其质量，对提升效率与成材率均具有非常重要的意义。CCD光电测量属于非接触测量，不会发生传统测量尺在反复测量使用后出现机械磨损，损失测量精度的情况；测量，实时性好，尤其适用于在运动中进行多点测量，可对高速运动物进行测量；被测物的高温、抖动情况等对测量无影响。修磨线单路测径仪安装方法，将支架落地安装在修磨线出口的两个托辊之间，支架地脚以膨胀螺栓固定。
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在黑暗环境里，它的电阻值很高，当受到光照时，只要光子能量大于半导体材料的禁带宽度，则价带中的电子吸收一个光子的能量后可跃迁到导带，并在价带中产生一个带正电荷的空穴，这种由光照产生的电子—空穴对了半导体材料中载流子的数目，使其电阻率变小，从而造成光敏电阻阻值下降。光照愈强，阻值愈低。入射光消失后，由光子激发产生的电子—空穴对将复合，光敏电阻的阻值也就恢复原值。在光敏电阻两端的金属电极加上电压，其中便有电流通过，受到波长的光线照射时，电流就会随光强的而变大，从而实现光电转换。光敏电阻没有极性，纯粹是一个电阻器件，使用时既可加直流电压，也加交流电压。半导体的导电能力取决于半导体导带内载流子数目的。
粒子加速装置中电磁场是利用低电压，高电流的直流电源驱动电磁线圈产生的。应用于粒子加速器中的电源需要具有高输出功率的同时，要具有极高的度和稳定性。AMETEKSorensenSG系列直流电源输出功率覆盖4kW-15kW，电压1-1V,电流5-6A，多个型号满足不同电压电流的需求，输出，稳定度高达±.5%，并且SG系列直流电源具有多种通信接口，易于程控以实现变化的直流波形，波形和斜率均可设置，易于集成在大型系统内。
光敏电阻的工作原理是基于内光电效应。在半导体光敏材料两端装上电极引线，将其封装在带有透明窗的管壳里就构成光敏电阻，为了增加灵敏度，两电极常做成梳状。用于制造光敏电阻的材料主要是金属的硫化物、硒化物和碲化物等半导体。通常采用涂敷、喷涂、烧结等方法在绝缘衬底上制作很薄的光敏电阻体及梳状欧姆电极，接出引线，封装在具有透光镜的密封壳体内，以免受潮影响其灵敏度。
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简介40多年来，数字功能测试一直是测试领域的一部分。早的测试系统采用简单的静态数字测试功能。然而，随着这些数字设备，模块和系统的性能、复杂性的发展，数字测试仪器也在不断发展。特别是，器件切换速率相关技术的持续进步已经对测试仪器和系统提供了相对更高的性能要求，而的高端半导体测试系统提供了具有高功耗的数GHz测试功能。在军事-航天应用，数字功能测试要求不断的提出一系列的要求和挑战。与高端设备测试相关的测试要求不同，M-A应用主要侧重于支持模块和系统级测试。stwg139wei
