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雷达测试仪是通过微波来测量运动物体的速度，它基于多普勒原理，既当微波照射到运动的物体上时，会产生一个与运动物体速度成比率的一个变化，其变化大小正比于物体运动的速度。如当目标离雷达天线越近时，反射信号频率将高于发射机频率，反之，亦然。雷达枪就是根据这一原理研制的。
雷达发射的微波以一个扇型的方式出去（S1），在照射区域内的目标会对微波形成一个反射（S2），其中依据实际测量的要求，雷达又分为两种工作模式：一种是静态工作模式，一种是动态工作模式。所谓静态：即雷达静止不动（不在运动的巡逻车内），测迎面来的汽车或同向远离的汽车。所谓动态：既雷达处于运动状态（一般在运动的巡逻车内），测迎面来的汽车或同向远离的汽车，在动态情况下，测试一般又分为反向测量和同向测量，反向测量：测试的目标和巡逻车的运动方向相反，同向测量：测试的目标和巡逻车的运动方向相同。选用不同的测试状态，雷达使用不同的运算规则。雷达本身不易判别目标的运动方向。。
对于ZS1000有源，它配备了TeledyneLeCroyProBus接口，用于从示波器为供电。该接口让与示波器连为一体，因而示波器的前面板可以感应和完全控制。与无源相比，有源的输入电压范围也比较小。对这一点需要特别注意，以防止损坏。ZS1000的输入电压范围为±8伏特，无损电压为20伏特。此电压范围大于当前使用的任何逻辑电平的电压需求，因而这些非常适用于高速逻辑测量。
开关模式电源有三种常用电流检测方法是：使用检测电阻，使用MOSFETRDS(ON)，以及使用电感的直流电阻(DCR)。每种方法都有优点和缺点，选择检测方法时应予以考虑。检测电阻电流传感作为电流检测元件的检测电阻，产生的检测误差(通常在1%和5%之间)，温度系数也非常低，约为100ppm/°C(0.01%)。在性能方面，它提供精度的电源，有助于实现极为的电源限流功能，并且在多个电源并联时，还有利于实现精密均流。
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在黑暗环境里，它的电阻值很高，当受到光照时，只要光子能量大于半导体材料的禁带宽度，则价带中的电子吸收一个光子的能量后可跃迁到导带，并在价带中产生一个带正电荷的空穴，这种由光照产生的电子—空穴对了半导体材料中载流子的数目，使其电阻率变小，从而造成光敏电阻阻值下降。光照愈强，阻值愈低。入射光消失后，由光子激发产生的电子—空穴对将复合，光敏电阻的阻值也就恢复原值。在光敏电阻两端的金属电极加上电压，其中便有电流通过，受到波长的光线照射时，电流就会随光强的而变大，从而实现光电转换。光敏电阻没有极性，纯粹是一个电阻器件，使用时既可加直流电压，也加交流电压。半导体的导电能力取决于半导体导带内载流子数目的。
了解ADC在系统中的误差意味着，设计人员必须了解要采样的信号的类型。信号类型取决于如何定义转换器误差对整个系统的贡献。这些转换器误差一般以两种方式定义：无噪声代码分辨率（表示直流类信号）和“信噪比等式”（表示交流类信号）。由于电阻噪声和“kT/C”噪声，所有有源器件（如ADC内部电路）都会产生一定量的均方根(RMS)噪声。即使是直流输入信号，此噪声也存在，它是转换器传递函数中代码跃迁噪声存在的原因。
光敏电阻的工作原理是基于内光电效应。在半导体光敏材料两端装上电极引线，将其封装在带有透明窗的管壳里就构成光敏电阻，为了增加灵敏度，两电极常做成梳状。用于制造光敏电阻的材料主要是金属的硫化物、硒化物和碲化物等半导体。通常采用涂敷、喷涂、烧结等方法在绝缘衬底上制作很薄的光敏电阻体及梳状欧姆电极，接出引线，封装在具有透光镜的密封壳体内，以免受潮影响其灵敏度。
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由于压铸过程中，模具温度失控会造成主线缩痕，砂孔，裂缝，气泡等缺陷，压铸行业的模具温度需要通过红外技术监控。那么，红外技术是如何应用在压铸行业，保证模具温度快速调整并安全作业的呢？对于模具的表面温度进行实时监控在无需中断生产流程的情况下，即可有效的防止铸造过程中存在的各种问题，及时将其扼杀在萌芽状态。由于不必要的使用温度调节，压缩空气，水基润滑剂，脱模剂等，造成加工过程中模具温度过高或者过低对于零件的质量，模具的使用寿命，生产周期以及能源消耗和维护成本等产生不良的负面影响。stwg139wei
