关于E+H雷达料位计的测量条件
雷达固体物位计FMR57-NAALCABDA6XCJ1A+AKOP
:
NA
NEPSI Exia ICT6 Ga
电源;输出:
A
2-线; 4-20mA HART
显示，操作:
L
预留接FHX50插件+ M12接口
外壳:
C
GT20双腔室,铝涂层
电缆入口:
A
电缆密封套M20, IP66/68/6P
天线:
BD
喇叭100mm/4"
密封:
A6
FKM Viton GLT, -40...200oC/-40...392oF
调整装置,松套法兰4"/DN100/100, 316L*
过程连接:
XCJ
14.5Ibs/PN1/1K适用于4" 150lbs / DN100
PN16 / 10K 100
空气吹扫接口:
1 G1/4.
关于E+H雷达料位计的测量条件
·测量吸附性气体时，例如:氨气MH3或某些碳氢化合物2)，请在导波管中使用Levelflex或Micropilot FMR54测量。
·波束射至罐底的位置即为量程起点。特别是在圆盘底罐或带锥形出料口的罐体中，物位低于此点，便无法测量。
在导波管中测量时，电磁波不会完全扩散至导波管外部，应将零点设置在导波管底部。在c范围内测量时，测量精度将降低。为了确保此类应用场合中所需的测量精度，建议将零点设置在导波管底部上方的C。
·测量低介电常数的介质时(e，=1。。。4)3)，如果介质处于较低物位(低于C)，罐底可见。在此范围内测量时，精度将降低。如无法接受，在此类应用场合中，建议将零点设置在罐底上方的C。
·理论上，E+H雷达物位计大可测量至PMR51，FMR53和FMR54天线末端。但是，考虑腐蚀和粘附的影响，大量程与天线末端间的距离不得小于A。
·使用带平面天线的FMR54测量时，特别是测量低介电常数的介质时，大量程与法兰间的距离不得小A:1 m(3。28 ft)。
关于E+H雷达料位计的测量条件
