IM7587日置（HIOKI）阻抗分析仪IM7587
IM7587日置(HIOKI)阻抗分析仪IM7587
阻抗分析仪IM7587
可信赖的机型3GHz
测试电压测量频率：1MHz~3GHz
测量时间：快0.5ms（模拟测量时间）
测量值偏差：0.07%（测量频率1GHz时的代表值）
基本精度：±0.65% rdg.
紧凑主机仅机架一半大小，测试头尺寸仅手掌大小
丰富的接触检查（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
分析模式下可以边扫描测量频率、测量信号电平边进行测量
主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪的测试治具。
可进行*3GHz的稳定的高频测量
IM7587的测量频率是1MHｚ～3GHz。在改变频率的同时进行测量的分析仪的模式下宽频带的话则可以进行偏差较小的稳定的阻抗评估，因此能够从电子元件的开发到生产线上等各种领域内使用。
2.*短0.5ms的高速测量，有助于提高生产性
*短0.5ms（0.0005秒）的高速测量。因此，对于希望能够快速检查大量电子元件的生产厂家来说，大幅提高了生产效率。
3.主机尺寸小巧，降低生产成本
和去年发售的IM7580系列同样小巧、轻便。电子元件生产厂家的生产线中，可以实现为了提高空间效率的检查系统的小型化，以及通过同时安装多台来缩短检查时间，从而降低生产成本。而且，这类测量仪器非常的轻巧方便携带，能够在研发、品保、生产线等多种场合同时使用，放在桌上也不会占太多空间。
4.各种判定功能，判断合格与否
单一频率测量的LCR测试仪模式下，有判断电子元件合格与否的比较器功能、挑选电子元件的BIN功能。比较器功能是设置上下限值，并以其为判断标准进行合格与否的判断。相对于以1个判断标准判断合格与否的比较器功能，BIN功能*多可以设置10种判断标准，并进行排名。
多种频率测量的分析模式下，有从电子元件的频率特性中能判断合格与否的区域判定、峰值判定。区域判定是确认测量值是否进入任意设置的判定区域内的功能。峰值判定是判定共振点的功能。另外，还具有任意设置多种频率，并以此设定值为基础判断合格与否的点判断功能
基本参数：
基本精度 Z：0.65%rdg.θ：0.38(代表值)
测量时间 *短0.5ms（模拟测量时间）
测量范围 100mΩ～5kΩ
测量频率 1MHz～3GHz
测量信号电平 -40.0dBm～+1.0dBm（4mV～502mV）
主要用途：
电子元件生产厂家内的电子元件的出货检查和特性评估
电子设备生产厂家内的电子元件的验货检查和特性评估
高校研究所内的电子元件的特性评估
