日本TSS-5X-3远红外线发射率测试仪产品构成：
１．红外线照射源
藉由在一定温度中加热后的半球面黒体炉，在材料中集中照射。
２．红外线检验素子
从材料反射出的能量的一部分，射进半球面黒体炉的顶点的小孔，用一定比率做检验。
注：比率是依据光学系的构造来决定。
３．发射率演算回路
从反射能量检验器的输出，演算试料的发射率。
注：材料的反射率和发射率的关系式如下：r εε＝１－r
４．放射率表示値的校正
用发射率标准片（ε＝０．０６与０．９４）做校准.
测量原理：利用恒温放射的远红外线发射源，将能量照射后计算所反射的能量。
测量波长：2-22μｍ
测量范围：0.00-1.00
额定精度：±0.01
测量面积：Φ15mm
测量距离：12mm（固定探头的脚柱部）
被测物温：10-40℃（室温）
输 出：0-0.1V，0-1V（满载）
使用温度：10-45℃
使用湿度：35-85%RH（未结露、霜之状态）
使用电源：AC100V ±10%，50/60Hz
外型尺寸：探头Φ51X137mm（0.5Kg）
主机：H170X W306ｘD230mm（5Kg）
配件：发射率标准片0.94、0.06各一片。
代理商：北京华睿志达科技发展有限公司
Beijing Huaruizhida Technology Development Co.Ltd.,
北京华瑞森科技发展有限公司
Beijing Huaruison Technology Development Co.Ltd.,
