天瑞仪器Xray膜厚测试仪Thick800A：是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪，使用大铍窗薄窗口高分辨率的SDD探测器，其探测器分辨率*为139eV，处于国际*水平；产品采用上照式设计，多重防辐射保护装置以及X射线发生器，使辐射剂量符合国际规定；样品观察系统采用CCD摄像头、数字多道分析器、激光定位以及研发的测厚分析软件，各项指标均符合相关技术要求，技术达国际*水平。
仪器原理
Xray膜厚测试仪利用初级X 射线激发待测物质中的原子，产生次级X 射线也就是X荧光而进行物质成分分析的方法。 当原子受到X 原级X 射线的激发原子内层电子会出现空穴，原有的平衡状态被破坏，较外层的电子会跃迁到内层电子空位，内层电子和外层电子会有能级差，多余的能量会以X射线的形式释放出来也就是我们说的次级X 射线光也叫X 荧光。而不同的元素它们的能量都是不一样的，通过识别它们的能量就可以判断是什么元素，这就是定性分析的基础。
X 荧光光谱仪主要由激发源、分光装置、探测器、数据处理，输出等单元组成。激发源的作用就是产生初级X 射线。它由高压电源和X 光管组成。后者功率较大，用水和油同时冷却。分光装置的作用是分出不同波长的X 射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。探测器的作用是将X 射线能量光信号转化为电信号，常用的有正比计数管、半导体探测器等。数据处理由放大器、多道脉冲分析器、组成。通过标样得到已知含量的强度来对未知含量的样品进行对比分析，而得到被测元素的含量。
应用优势
1 快速：Xray膜厚测试仪一般测量一个样品只需要30S～300S，样品可不处理或进行简单处理；
2 无损：金属镀镍层测厚仪属于物理测量，不改变样品性质；
3 准确：对样品可以分析；
4 直观：直观的分析谱图，元素分布一幕了然，定性分析速度快；
5 环保：检测过程中不产生任何废气、废水。
参数规格
1 金属镀镍层测厚仪分析元素范围：S-U
2 Xray膜厚测试仪可同时可分析多达5层以上镀层
3 分析厚度检出限*达0.005μm
4 多次测量重复性*可达0.01μm
5 定位精度：0.1mm
6 测量时间：30s-300s
7 计数率：1300-8000cps
8 Z轴升降范围：0-140mm
9 X/Y平台可移动行程：50mm(W)×50mm(D)
应用领域
Xray膜厚测试仪应用领域耐磨镀层 如镀Ni、镀Cr、镀Ni-W、Ni-Co、NiP合金
减摩镀层 如镀Sn、In、Sn-In合金
热加工镀层 如防渗碳镀Cu、防渗氮镀Sn
反光镀层 如镀Ag、光亮Ni等
防反光镀层 如镀黑Ni、镀黑Cr等
导电镀层 如镀Au、Ag、Sn、Cu等
磁镀层 如镀Ni-Fe合金、Ni-Co合金等
抗氧化镀层 如镀Cr、镀Pt-Rh合金
耐酸镀层 如镀Zn、Sn-Pb合金等
