静电场描绘实验仪/导电微晶静电场描绘仪配四种电极/配数码管电源3位半同心圆/平行导线/聚焦劈尖形型号GVZ-4

发布时间:2022-11-28
静电场描绘实验仪/导电微晶静电场描绘仪(配四种电极(配数码管电源3位半):同心圆、平行导线、聚焦、劈尖形) 型号:GVZ-4

库号:M332262  

GVZ-4型主要参数:
1.      GVZ-4型为箱体和电源分离式,单笔测试,内置四种电极
(同心圆、平行导线、聚焦、劈尖形)。
2.规格为420mm*260mm,高100mm,K4-2导线。
3.同心圆和其他电极印有坐标格规格为1mm. 
4.微晶导电层的均匀性,实验值误差为小于2%。
5.电源输出范围(直流)为7.00v—13.00V,分辨率为0.01V (配三位半数码管)。
6.采用多圈电位器调节电压,调节细度可达0.01V。
7.应承受250g正负50g的力摩擦2万次,膜层电阻阻值变化0.3%,对导电微晶无磨损。





GVZ-4型主要参数:
1.      GVZ-4型为箱体和电源分离式,单笔测试,内置四种电极
(同心圆、平行导线、聚焦、劈尖形)。
2.规格为420mm*260mm,高100mm,K4-2导线。
3.同心圆和其他电极印有坐标格规格为1mm. 
4.微晶导电层的均匀性,实验值误差为小于2%。
5.电源输出范围(直流)为7.00v—13.00V,分辨率为0.01V (配三位半数码管)。
6.采用多圈电位器调节电压,调节细度可达0.01V。
7.应承受250g正负50g的力摩擦2万次,膜层电阻阻值变化0.3%,对导电微晶无磨损。





GVZ-4型主要参数:
1.      GVZ-4型为箱体和电源分离式,单笔测试,内置四种电极
(同心圆、平行导线、聚焦、劈尖形)。
2.规格为420mm*260mm,高100mm,K4-2导线。
3.同心圆和其他电极印有坐标格规格为1mm. 
4.微晶导电层的均匀性,实验值误差为小于2%。
5.电源输出范围(直流)为7.00v—13.00V,分辨率为0.01V (配三位半数码管)。
6.采用多圈电位器调节电压,调节细度可达0.01V。
7.应承受250g正负50g的力摩擦2万次,膜层电阻阻值变化0.3%,对导电微晶无磨损。





GVZ-4型主要参数:
1.      GVZ-4型为箱体和电源分离式,单笔测试,内置四种电极
(同心圆、平行导线、聚焦、劈尖形)。
2.规格为420mm*260mm,高100mm,K4-2导线。
3.同心圆和其他电极印有坐标格规格为1mm. 
4.微晶导电层的均匀性,实验值误差为小于2%。
5.电源输出范围(直流)为7.00v—13.00V,分辨率为0.01V (配三位半数码管)。
6.采用多圈电位器调节电压,调节细度可达0.01V。
7.应承受250g正负50g的力摩擦2万次,膜层电阻阻值变化0.3%,对导电微晶无磨损。





GVZ-4型主要参数:
1.      GVZ-4型为箱体和电源分离式,单笔测试,内置四种电极
(同心圆、平行导线、聚焦、劈尖形)。
2.规格为420mm*260mm,高100mm,K4-2导线。
3.同心圆和其他电极印有坐标格规格为1mm. 
4.微晶导电层的均匀性,实验值误差为小于2%。
5.电源输出范围(直流)为7.00v—13.00V,分辨率为0.01V (配三位半数码管)。
6.采用多圈电位器调节电压,调节细度可达0.01V。
7.应承受250g正负50g的力摩擦2万次,膜层电阻阻值变化0.3%,对导电微晶无磨损。





GVZ-4型主要参数:
1.      GVZ-4型为箱体和电源分离式,单笔测试,内置四种电极
(同心圆、平行导线、聚焦、劈尖形)。
2.规格为420mm*260mm,高100mm,K4-2导线。
3.同心圆和其他电极印有坐标格规格为1mm. 
4.微晶导电层的均匀性,实验值误差为小于2%。
5.电源输出范围(直流)为7.00v—13.00V,分辨率为0.01V (配三位半数码管)。
6.采用多圈电位器调节电压,调节细度可达0.01V。
7.应承受250g正负50g的力摩擦2万次,膜层电阻阻值变化0.3%,对导电微晶无磨损。


静电场描绘实验仪/导电微晶静电场描绘仪(配四种电极(配数码管电源3位半):同心圆、平行导线、聚焦、劈尖形)GVZ-4

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