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平时我们都关注示波器的三大核心指标：带宽、采样率、存储深度，但是除了三大技术指标，还有底噪、非线性度、偏置误差等，上述指标决定了能否实现更的测量，那究竟这些指标的高低由谁来决定呢？当选用示波器进行测量时，除了关注核心指标，示波器测试系统的质量也是极为重要的，底噪、非线性度、偏置误差等决定了是否可以进行更好的测量，而这些指标主要由示波器的ADC性能决定，这就要引入一个概念：等效位数（ENOB，effectivenumberofbits）。ENOB是什么ENOB（等效位数）是一个极为综合的指标，在一定程度上涵盖了数字示波器的多种误差，偏置误差、增益误差、非线性度、噪声等等。在介绍ENOB之前，先介绍下SINAD，即为信号-噪声及失真比，SINAD=S/(N+D)，其中S是信号功率、N是噪声功率、D是失真功率，也就是说，SINAD与信号功率呈正比，与噪声及失真功率呈反比，所以提高SINAD的方法有：降低噪声、提高信号的纯度（减小信号的畸变）。
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工程师甚至可以在诊断一个间歇故障之后，对设计进行更改，很快再进行测试。测试的结果可以对设计更改的影响进行的验证。借助扫描系统，电路板设计工程师可以预先测试和解决电磁兼容问题，从而避免产生非预期的一致性测试结果。扫描仪的诊断功能可以帮助设计团队将辐射测试时间缩短两个数量级以上。EMI近场辐射特性：SSCG示例某一大型半导体厂商在解串器的并行总线上实现了SSCG功能。SSCG功能能够通过将辐射峰值能量扩展到更宽的频带上来减少辐射。
