日本spectra简易USB膜厚测量仪Handy Lambda Ⅱ Thickness
将光照射到透明或半透明的薄膜上，根据光的光谱信息计算薄膜厚度，因此作为一种不损坏样品且再现性良好的测量方法而备受关注。
由于样品是用光纤照射的，因此无论位置如何，现在都可以在线使用。
当与致动器组合使用时，也可以进行简单的映射膜厚度测量。
电影
硅、氮化硅、氧化硅
粘合剂、涂层剂
颜料膜、油膜、彩色滤光膜
空气层
光刻胶
氧化钛
电介质膜、金属氧化膜
紫外线固化树脂
砷化镓
CD、MD、DVD
聚合物
漆膜
金属膜
| 模型 | Handy Lambda II 厚度 | 固体λ厚度 |
|---|---|---|
| 测量膜厚范围 | 50nm-20μm | 50nm-100μm |
| 膜厚显示分辨率 | 0.001微米 | 0.001微米 |
| 测量再现性 | 0.01μm以下 | 0.01μm以下 |
| 界面 | USB2.0 | USB2.0 |
日本spectra简易USB膜厚测量仪Handy Lambda Ⅱ Thickness
将光照射到透明或半透明的薄膜上，根据光的光谱信息计算薄膜厚度，因此作为一种不损坏样品且再现性良好的测量方法而备受关注。
由于样品是用光纤照射的，因此无论位置如何，现在都可以在线使用。
当与致动器组合使用时，也可以进行简单的映射膜厚度测量。
电影
硅、氮化硅、氧化硅
粘合剂、涂层剂
颜料膜、油膜、彩色滤光膜
空气层
光刻胶
氧化钛
电介质膜、金属氧化膜
紫外线固化树脂
砷化镓
CD、MD、DVD
聚合物
漆膜
金属膜
| 模型 | Handy Lambda II 厚度 | 固体λ厚度 |
|---|---|---|
| 测量膜厚范围 | 50nm-20μm | 50nm-100μm |
| 膜厚显示分辨率 | 0.001微米 | 0.001微米 |
| 测量再现性 | 0.01μm以下 | 0.01μm以下 |
| 界面 | USB2.0 | USB2.0 |
