探头设计人员根据材料特性，客户检测方式的需求，为PE类材质的检测专门定制了两款探头，针对薄板和厚板的材质衰减及超声波反射情况，采用不同的检测工艺，以到达直观、清晰的检测效果。探头晶片排列结构优化了探头的性能，增加探头在PE类板材扫查时覆盖的面积，提高了检测效率。探头设计人员根据材料特性，客户检测方式的需求，为PE类材质的检测专门定制了两款探头，针对薄板和厚板的材质衰减及超声波反射情况，采用不同的检测工艺，以到达直观、清晰的检测效果。探头晶片排列结构优化了探头的性能，增加探头在PE类板材扫查时覆盖的面积，提高了检测效率。
| 型号 | 频率(MHZ) | 晶片 数量 | 阵元中心 距离(mm) | 阵元 长度(mm) | 探头 类别 | 电缆线 容量 | 连接器 型号 | 其他 |
| 1MHz-PTFE | 1 | 64 | 1.5 | 22 | C62 | 110 | P2 | 轮式PTFE板材扫查架SCQPA-PB |
| 2.5MHz-PTFE | 2.5 | 64 | 1.0 | 10 | C13 | 110 | P2 | 轮式PTFE板材扫查架SCQPA-PB |
探头设计人员根据材料特性，客户检测方式的需求，为PE类材质的检测专门定制了两款探头，针对薄板和厚板的材质衰减及超声波反射情况，采用不同的检测工艺，以到达直观、清晰的检测效果。探头晶片排列结构优化了探头的性能，增加探头在PE类板材扫查时覆盖的面积，提高了检测效率。探头设计人员根据材料特性，客户检测方式的需求，为PE类材质的检测专门定制了两款探头，针对薄板和厚板的材质衰减及超声波反射情况，采用不同的检测工艺，以到达直观、清晰的检测效果。探头晶片排列结构优化了探头的性能，增加探头在PE类板材扫查时覆盖的面积，提高了检测效率。
| 型号 | 频率(MHZ) | 晶片 数量 | 阵元中心 距离(mm) | 阵元 长度(mm) | 探头 类别 | 电缆线 容量 | 连接器 型号 | 其他 |
| 1MHz-PTFE | 1 | 64 | 1.5 | 22 | C62 | 110 | P2 | 轮式PTFE板材扫查架SCQPA-PB |
| 2.5MHz-PTFE | 2.5 | 64 | 1.0 | 10 | C13 | 110 | P2 | 轮式PTFE板材扫查架SCQPA-PB |
