易于选择
只需更换探头，即可轻松测量黑色金属和有色金属上的薄膜。
特殊磁极
采用特殊材料制成的精密加工磁极。 与传统的CVD处理磁极一起，测量精度进一步提高。
基本型和多功能型
有一种基本类型强调易于理解和易于使用的薄膜厚度测量，还有一种是配备各种功能的多功能类型。
操作
设计理念是符合人体工程学的可操作性，例如大显示屏上易于使用的按键布局，一目了然地显示测量状态。
高可靠性
具有抗震结构，特殊磁极，长期老化等，以及完善的售后服务体系，您可以放心地长期使用。
涂层测厚仪分类
膜厚仪有以下几种方法，根据测量对象基板上的膜类型选择设备类型。
有非破坏性类型（电磁感应和涡流，电磁感应，涡流，永磁体）和破坏性类型（湿规，切割）。
（1）根据上面的分类表选择测量方法。
（2）根据测量范围、精度、探头类型、测量对象等选择仪器类型。
SWT-NEO
双型涂层测厚仪
SWT-NEOII./NEOIII.
双型涂层测厚仪
SWT-NEO-FN
双型涂层测厚仪
NEO系列探头
* 需要主机
新增功能
SWT-N232C
双型涂层测厚仪
SAMAC-FN
双型涂层测厚仪
SAMAC-PRO
双型涂层测厚仪
SWT-NEO-F
电磁膜测厚仪
SAMAC-F
电磁涂层测厚仪
CTR-2000V
多功能电磁膜厚仪
SP-3300D
丝网加工用电磁膜厚仪
Pro-S
电磁模拟薄膜测厚仪
Pro-W
电磁模拟涂层测厚仪
SL-120C
电磁模拟膜厚仪
SL-5P
电磁模拟薄膜测厚仪
SL-200E
电磁模拟薄膜测厚仪
TL-50
电磁模拟薄膜测厚仪
SM-Pen
电磁模拟薄膜测厚仪
