镀层的厚度是在镀层产品品质的*重要保证因素。常用的镀层厚度测量方法包括破坏性和非破坏性两大类。破坏性测厚法包括阳极溶解库仑法、金相法、溶解称重法、液流法、点滴法等;非破坏性测厚法包括机械量具法、磁性法、涡流法、XRF分析法等。其中，XRF分析法是因其非破坏性、快速性和直接性等特点，是镀层厚度测量领域中常见的和比较欢迎的方法。
EXPLORER5000适用于镀层厚度测量及材料分析，具有无损，可靠，高生产力，高灵活性等优点，可用来定性分析样品的元素组成，也可用于镀层和镀层系统的厚度测量，广泛应用于电路板、半导体、电镀、五金产品、汽车零部件、卫浴洁具、珠宝等工业中的功能性镀层电镀槽液中的成分浓度分析。
